[实用新型]一种LED灯测试系统

说明书

本实用新型公开了一种LED灯测试系统，包括用于接收测试信号并控制测试系统的ARM处理器；用于根据测试信号对LED灯进行测试的测试设备，测试设备分别与ARM处理器和LED灯连接。由此可见，该测试系统，ARM处理器可以根据接收到的测试信号对整个测试系统进行控制，也就是说可以通过ARM处理器控制测试设备对LED灯进行测试，与传统的利用PLC处理器控制测试设备对LED灯进行测试相比硬件成本低，进而降低了硬件成本。

技术领域

本实用新型涉及电子应用领域，特别涉及一种LED灯测试系统。

背景技术

LED灯具有节能环保、使用寿命长等特点，是当前国家大力推广的照明工具。但是与传统的日光灯、电泡灯相比其价格比较高，这也是影响LED灯推广的原因之一，因此各个领域都在提高技术的同时极力降低成本，对于LED灯生产厂家而言，制作LED灯时所需的设备或者对LED灯进行测试时所需的测试设备都是一项很大的投资，在各种设备中测试设备是必不可少的，它可以检测LED灯的质量是否满足要求。但是传统的测试方法是利用可编程控制器与组态软件的结合来进行测试的，由于组态软件和WINDOWS操作系统授权费用昂贵，并且可编程控制器的价格相比单片机高出许多，所以会造成许多测试设备的价格昂贵，除此之外，是因为许多设备厂家的技术人员对IT技术、电子技术方面的知识了解有限，其相关测试设备的核心技术都需要借鉴国外相关科技公司，例如，数控机床(CNC)的控制系统以及机器人行业等。

由此可见，如何克服在测试LED灯质量是否满足要求时，硬件成本高的问题是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种LED灯测试系统，以解决现有技术中在测试LED灯质量是否满足要求时，硬件成本高的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种LED灯测试系统，包括：

用于接收测试信号并控制测试系统的ARM处理器；

用于根据所述测试信号对LED灯进行测试的测试设备，所述测试设备分别与所述ARM处理器和所述LED灯连接。

优选地，所述ARM处理器为TI MA3354ARM处理器。

优选地，当使用所述ARM处理器控制所述测试系统时，对应的电源设备具体包括：隔离变压器、滤波器和明纬开关电源，所述滤波器分别与所述隔离变压器和所述明纬开关电源连接。

优选地，还包括：用于防止电磁干扰的屏蔽罩，所述屏蔽罩与所述ARM处理器连接。

优选地，还包括：设置于ARM处理器101所在处，用于散热的风扇。

优选地，还包括：

用于传递测试结果或者输入测试命令的人机交互设备，所述人机交互设备与所述ARM处理器的第一通信接口连接。

优选地，还包括：

用于实现所述测试结果无线传输的无线通信设备，所述无线通信设备与所述ARM处理器的第二通信接口连接。

优选地，还包括：

用于检查所述LED灯是否存在外观缺陷的视觉检测设备，所述视觉检测设备分别与所述ARM处理器的第三通信接口和所述LED灯连接。

优选地，还包括：设置有凸轮和夹具的转盘，所述转盘用于将所述LED灯移至目标位置，所述凸轮用于根据电机的转动驱动所述转盘转动，所述夹具用于固定所述LED灯。