[实用新型]高性能RFID综合测试仪器

说明书

本实用新型涉及一种高性能RFID综合测试仪器，由模块化仪器和开放的高速总线组成，模块化仪器由嵌入式主控制器、矢量信号收发器、频率源和功率放大器组成，其中：嵌入式主控制器、矢量信号收发器、频率源和放大器分别与开放的高速总线进行双向连接，频率源的输出端连接矢量信号收发器的外本振输入端，矢量信号收发器的输入端接被测设备返回的信号，矢量信号收发器的输出端连接功率放大器的输入端，功率放大器的输出端输出射频信号，本高性能RFID综合测试仪器不仅能够实现RFID的协议一致性测试，更是在RFID被测设备的性能指标测试中达到高准确度、高精度且使用方便。本实用新型内置有超高速的板载FPGA实现快速实时处理RFID被测设备的返回信号。

技术领域

本高性能RFID综合测试仪器是属于RFID（Radio Frequency identification）检测与计量技术领域，具体涉及一种高性能RFID综合测试仪器。

背景技术

如今社会技术发展迅速，RFID的相关设备标签和阅读器发展迅速，如：物流传输、物品标识、动物识别、身份识别、各种电子读卡器、商品标签等各种行业应用广泛。而传统的检测此类设备的仪器如：频谱仪必须配合信号源及天线等，搭建完整的系统才可以检测读写器或标签的存储信息及性能参数。况且，RFID国际上的标准规范都有区别，即使相同频段不同的标准要求也是各有差异。如UHF标签或读写器的通信协议及测试规范：ISO18000-6C、ISO18047-6、EPCglobal Class-1 Generation-2、TIPP等，通信协议及测试方法各有测重点。不同的测试项目用不同的设备，成本高且很难解析出标签或读写器的通信协议参数或存储区的信息。

更何况UHF标签和阅读器之间的通信建立要求微妙级的实时应答与通信，因此，要求检测设备的性能指标必须能够满足条件，而一般或传统的检测设备检测不准确或者无法测试。本高性能RFID测试仪器的提出，是基于高精度的射频平台，配合自制仿真器进行测试，覆盖范围广、测试精度高。同时，基于FPGA的基带平台具有卓越的实时性能和可扩展性，以满足不断演进的RFID标准，且灵活的射频层提供了高频、超高频以及微波频率接口。再结合软件无线电构架为测试系统提供了良好的扩展能力，能够快速适应RFID国际标准以及国家、地方、行业标准的不断更新与变化。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种高性能RFID综合测试仪器。

本实用新型提出的高性能RFID综合测试仪器，由模块化仪器和开放的高速总线５组成，模块化仪器由嵌入式主控制器1、矢量信号收发器３、频率源２和功率放大器4组成，嵌入式主控制器1、矢量信号收发器３、频率源２和功率放大器4分别与开放的高速总线５进行双向连接，频率源２的输出端连接矢量信号收发器３的外本振输入端，矢量信号收发器３的输入端接被测设备返回的信号，矢量信号收发器３的输出端连接功率放大器４的输入端，功率放大器４的输出端输出射频信号，

本实用新型中，所述开放的高速总线为PXI或PXI Express 5。

本实用新型的有益效果在于：

本高性能RFID综合测试仪器的各个模块之间经射频电缆传输时钟信号和射频信号，并提供被检测的RFID设备与仪器之间的射频接口。

本高性能RFID综合测试仪器由主控制器发送指令给射频收发模块，并控制测试的流程及返回信号的分析，建立RFID无线通讯。外本振频率源模块生成超底相噪的时钟信号传送给矢量信号收发器，矢量信号收发器生成实时的IQ信号，在经过正交调制后到射频输出，经过放大器放大后，再经过射频电缆到天线发送给RFID标签。矢量信号发生器的射频输入端收到RFID被测标签返回的信号，经过正交解调后转化为基带IQ信号进行采集分析。再通过开放高速总线PXI或PXIe送至主控制器进行各项性能及协议参数的分析。