[实用新型]电子天平密度测量套件装置

权利要求书

1.一种电子天平密度测量套件装置，其特征在于，包括：

支撑架(1)，该支撑架(1)为具有对称中心线的轴对称结构且底端连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架(1)的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架(1)的所述对称中心线上；

样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)，该样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)设置于所述支撑架(1)上，并沿所述支撑架(1)的所述对称中心线朝向该支撑架(1)的底端延伸；以及，

烧杯支架(3)，该烧杯支架(3)支撑于所述电子天平的面板上，且该烧杯支架(3)与所述支撑架(1)之间具有间隙。

2.根据权利要求1所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑架(1)和样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)能够导电，其中，所述支撑架(1)的底端通过连接头(101)连接于所述秤盘座上，所述连接头(101)采用非金属材料制成并能够利用万用表测得电阻值。

3.根据权利要求2所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑架(1)包括连接至所述连接头(101)的若干条支撑臂(12)。

4.根据权利要求2所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑臂(12)的横截面为圆形。

5.根据权利要求3所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑臂(12)连接有支撑件(102)，该支撑件(102)具有通孔，所述样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)支撑于该支撑件(102)上并穿过所述通孔延伸。

6.根据权利要求5所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)包括用于支撑于所述支撑件(102)上的安装盖(21)和连接于该安装盖(21)下侧的浮子或样品托盘。

7.根据权利要求6所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述安装盖(21)包括第一盖体和设置于该第一盖体下端的第二盖体，所述第一盖体或第二盖体支撑于所述支撑件(102)上，并使得所述第二盖体的外周与所述通孔的内周相配合。

8.根据权利要求6所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述浮子包括浮子本体(64)，所述浮子本体(64)为玻璃浮子，体积为10±0.01立方厘米。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，还包括不同规格的烧杯(4)，所述烧杯(4)放置于所述烧杯支架(3)上并使得所述样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)延伸至该烧杯(4)内。

10.根据权利要求9所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，该电子天平密度测量附件装置还包括温度计(5)和夹子，所述温度计(5)为非直线结构，并通过所述夹子夹设于所述烧杯(4)上。