[实用新型]LTE数字移动通信综合测试仪性能测试系统

说明书

本实用新型公开了LTE数字移动通信综合测试仪性能测试系统，它涉及通信技术领域；计算机与服务器连接，服务器与性能快速测试仪连接，射频输入接头的一端接地，射频输入接头的另一端与转换开关二的一脚连接，所述转换开关二的两个转换脚分别与低通滤波器、带通滤波器的一脚连接，低通滤波器的另一端与转换开关一的一转换脚连接，所述带通滤波器的另一端与本振信号器连接，本振信号器与转换开关一的另一转换脚连接，转换开关一的一脚与可调衰减器连接，可调衰减器分别与本振放大器、中频放大器连接，中频放大器与中频滤波器连接，中频滤波器与转换器连接，转换器与现场可编程门阵列连接；本实用新型能实现快速测量，且工作稳定性高，操作简便，节省时间。

技术领域：

本实用新型涉及LTE数字移动通信综合测试仪性能测试系统，属于通信技术领域。

背景技术：

现有的OEM工厂品质管理体系或实验室管理体系中，对所使用的LTE数字移动通信综合测试仪的性能监控基本处于空白状态。通行的做法是每隔一年对综测仪进行一次校准。在两次校准期内，由工厂或实验室内部人员定期对仪表性能进行核查。其缺点是：工厂或实验室基层工作人员由于缺乏经验或者由于对测试规范以及仪表制造原理理解不深，其指定的核查方法往往不能反映仪表的真实性能状态。在实际操作时，期间核查也往往流于形式，仅对仪表外观和功能进行常规检查。而由于缺少在两次校准期内准确的核查数据，无法确定仪表在这一年内的性能变化，因此，一年校准期的指定缺乏依据，而在一年的校准期内，企业的生产或实验室的测试活动需要冒较大风险。如果不能及时确认仪表的工作状态，对工厂而言，会对产品的良率产生很大的影响；对实验室而言，测试结果数据的准确性也会受到影响。从另一方面考虑，不同类型综测仪的制造原理和性能参数不尽相同，对于相关核查人员的专业水准是一个较大的考验。同时，即便是现有的较完善的核查方式，也基本是通过手动操作的方式来进行，其效率较低，尤其是涉及到OEM工厂内大批同型号的综测仪，所需核查时间太长会影响到生产的进度。

实用新型内容：

针对上述问题，本实用新型要解决的技术问题是提供LTE数字移动通信综合测试仪性能测试系统。

本实用新型的LTE数字移动通信综合测试仪性能测试系统，它包含计算机、服务器与性能快速测试仪；计算机与服务器连接，服务器与性能快速测试仪连接，所述性能快速测试仪包含小数分频器、鉴相器、环路滤波器、低相噪放大器、本振放大器、中频放大器、中频滤波器、转换器、现场可编程门阵列、转换开关一、转换开关二、可调衰减器、低通滤波器、带通滤波器、射频输入接头、本振信号器；射频输入接头的一端接地，射频输入接头的另一端与转换开关二的一脚连接，所述转换开关二的两个转换脚分别与低通滤波器、带通滤波器的一脚连接，低通滤波器的另一端与转换开关一的一转换脚连接，所述带通滤波器的另一端与本振信号器连接，本振信号器与转换开关一的另一转换脚连接，转换开关一的一脚与可调衰减器连接，可调衰减器分别与本振放大器、中频放大器连接，中频放大器与中频滤波器连接，中频滤波器与转换器连接，转换器与现场可编程门阵列连接，本振放大器与低相噪放大器、小数分频器连接，低相噪放大器与环路滤波器连接，环路滤波器与鉴相器连接，鉴相器与小数分频器连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：能实现快速测量，且工作稳定性高，操作简便，节省时间。

附图说明：

为了易于说明，本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1为本实用新型中测试时的结构示意图；

图2为本实用新型中性能快速测试仪的结构示意图一；

图3为本实用新型中性能快速测试仪的结构示意图二。

具体实施方式：