[实用新型]一种IC功能测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，特别涉及一种IC功能测试治具。

背景技术

电子产品发生功能异常后，通常都需要对其电子元件主板进行分析，找出运行异常的集成电路（IC），便于后续排除。但针对一些管脚数量较大且采用焊球陈列封装的核心IC，由于焊点极小，人为焊接操作难度较大，通常只能先对其外围电路进行分析，逐一确认外围元件无电性能失效，从而通过排除法锁定是否为IC的问题。上述排除法虽然可以排除外围元件的影响，但无法完全排除IC焊接及PCB板内部可能存在的问题，而且由于IC对温度具有敏感性，外围元件的排除过程无法得到完全保证，操作不慎还会导致其周边元件的损坏。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述技术问题，提供了一种专门用于检测IC功能的治具，通过该治具的检测完全可以排除PCB的影响和焊接的问题，验证IC的功能是否正常。

一种IC功能测试治具，包括PCB板、下针板、浮板、盖板、IC夹套、压块、上盖、旋钮、底板及显示屏；上述PCB板一侧固定安装在底板上，PCB板相对另一侧与下针板电信号连接，浮板上设有与下针板形状相符的通孔，下针板嵌接在浮板上；盖板上设有与浮板形状相符的通孔，浮板嵌接在盖板上；盖板在与PCB板相背的一侧设有IC夹套及压块， IC夹套及压块依次置于下针板上侧，压块在与下针板相背一侧与旋钮连接，所述上盖设置在旋钮与压块之间，所述PCB板与显示屏电信号连接。下针板作为PCB板的接入口与外部植入的IC相连接，上述浮板用于固定下针板，而盖板用于固定浮板，并将浮板与其他零部件相组合在一起。

进一步的，上述上盖与盖板通过卡扣、螺丝或夹具相连接。便于旋转旋钮将外部用力传递至压块，并在压块的作用下使IC管脚与下针板充分接触。

进一步的， PCB板为长方形，所述PCB板的短边缘一侧还设有散热板。散热板对电路及时进行散热降温，保持温度的稳定，避免IC性能受到影响。

进一步的，散热板在与PCB板向背一侧依次设有第一保护罩和第二保护罩。第一保护罩和第二保护罩对散热板进行保护作用。

进一步的，上述盖板在与散热板相对应的一侧边缘连接有第二盖板，所述第二盖板用于固定散热板、第一保护罩及第二保护罩。通过第二盖板的连接作用将散热板、第一保护罩和第二保护罩紧密固定在一起。

进一步的，第二盖板上还设有线圈保护罩。线圈保护罩对裸露在第二盖板外侧的线路进行保护。

进一步的，上述底板固定安装在基板上。

进一步的，底板与基板之间还安装有一夹板。

进一步的，显示屏通过侧面筋板与夹板和基板固定相连。

进一步的，上述基板上设有压线镶块。对裸露在基板外侧的线路进行保护。

本实用新型的有益效果：

与现有技术相比较，本实用新型所公开的一种IC功能测试治具可以完全排除PCB板的影响及焊接产生的问题，对IC的功能是否正常进行了更为有效的验证，避免了由于温度敏感产生的操作误差，降低了周边元件由于操作不慎发生损坏的概率。

附图说明

图1为IC功能测试治具各零部件连接结构示意图。

附图说明：1-PCB板，2-底板，3-下针板，4-浮板，5-盖板，6-夹具，7-压块，8-IC夹套，9-旋钮，10-上盖，11-线圈保护罩，12-第二盖板，13-散热板，14-第一保护罩，15-第二保护罩，16-夹板，17-基板，18-压线镶块，19-显示屏，20-侧面筋板。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征更易被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围作出更为清楚的界定。

实施例1：