[实用新型]一种便携式相控阵超声检测用校准试块

说明书

本实用新型涉及一种便携式相控阵超声检测用校准试块，校核试块的左端形成与上表面夹角呈60°的第一斜面块和与下表面夹角呈55°的第二斜面块，校核试块的右端形成R50mm的第一圆弧块和R30mm的第二圆弧块，校核试块上设有前后贯穿的五个通孔。本实用新型将相控阵超声检测的声速校准、ACG校准、灵敏度校准、TCG校准、晶片有效性校准集中在一块试块上，并且加工方面简单，试块体积小巧，方便检测人员携带，使校准程序标准化、简单化，降低了成本，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型主要涉及超声检测领域，特别涉及一种便携式相控阵超声检测用校准试块。

背景技术

相控阵超声是利用相位延迟、合成孔径技术、数字合成技术，进行超声无损检测的一项技术。一般进行相控阵无损检测前，需要对系统的组合性能对不同形状的反射体进行校准，从而得到可靠的相控阵超声无损检测系统。最新的GB_T 32563-2016《无损检测超声检测相控阵超声检测》标准，推荐采用如图1所示的CSK-IA试块1'进行声速校准、ACG校准、楔块延迟校准，在CSK-IIA试块2'进行灵敏度、TCG等校准。

采用这两块试块能实现上述的校准功能，但可能存在下列问题：

（1）需要CSK-IA试块1'和CSK-IIA试块2'两块试块进行，操作繁琐，试块成本高；

（2）CSK-IA试块1'和CSK-IIA试块2'没有考虑到晶片有效性校准，如需要校准晶片有效性，需要将探头拆卸下来，直接接触法进行晶片有效性校核，容易损伤晶片；

（3）CSK-IA试块1'和CSK-IIA试块2'重量大，不便于携带。

实用新型内容

本实用新型提供一种便携式相控阵超声检测用校准试块，旨在通过设计将相控阵超声检测的声速校准、ACG校准、灵敏度校准、TCG校准、晶片有效性校准集中在一块试块上，方便检测人员携带，使校准程序标准化、简单化，降低了成本，提高了工作效率。

本实用新型的目的可以通过下述技术方案来实现：一种便携式相控阵超声检测用校准试块，所述校准试块呈长条矩形块状，校准试块的左端形成第一斜面块和第二斜面块，所述第一斜面块的斜面与校准试块的上表面的夹角呈60°，所述第二斜面块的斜面与校准试块的下表面的夹角呈55°，第一斜面块位于第二斜面块的后方，第一斜面块和第二斜面块的宽度之和等于校准试块的宽度；校准试块的右端形成第一圆弧块和第二圆弧块，所述第一圆弧块和第二圆弧块同心且圆心均在校准试块的上表面，第一圆弧块的半径等于校准试块的高度且大于第二圆弧块的半径，第一圆弧块位于第二圆弧块的后方，第一圆弧块和第二圆弧块的宽度之和等于校准试块的宽度；校准试块上设有前后贯穿的多个通孔。

进一步地，所述校准试块长450mm，高50mm，宽35mm，第一斜面块和第二斜面块的宽度均为17.5mm，第一圆弧块的半径为50mm，第一圆弧块的宽度为25mm，第二圆弧块的半径为30mm，第二圆弧块的宽度为10mm；所述多个通孔分别为第一通孔、第二通孔、第三通孔、第四通孔和第五通孔，第一通孔的直径为1mm, 第二通孔、第三通孔、第四通孔和第五通孔的直径均为2mm，第一通孔和第二通孔的圆心到校准试块最左端的距离均为60mm，第三通孔、第四通孔和第五通孔的圆心到校准试块最右端的距离均为100mm，第一通孔、第二通孔、第三通孔、第四通孔和第五通孔的圆心到校准试块上表面的距离分别为15mm、35mm、5mm、25mm、35mm。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

（1）加工方面简单，本校准试块采用实用设计，加工简单，加工反射体简单，无曲面弧度等轮廓；

（2）试块体积小巧，本校准试块相对于焊缝试块重量降低80%以上，方便检测人员携带至现场，可在现场进行灵敏度校准和复核工作；