[实用新型]一种样品升温过程磁化率测定的实验系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及实验器材领域，具体涉及一种样品升温过程磁化率测定的实验系统。

背景技术

在测定物质磁化率的实验中，如图1所示，装有样品的磁化率样品管10下端置于磁极中央，上端挂钩与天平的一端连接，天平的另一端用砝码平衡，当样品被磁化后，竖直方向会产生一个磁力，从而改变天平的读数。通过测量样品管高度、磁场强度大小以及天平的读数，即可计算出样品的磁化率。目前所用的磁化率管只能测量常温下物质的磁化率，管口与管塞套接并用橡皮筋固定，样品装入磁化率样品管后，用尺子测量样品的高度，使用起来步骤繁琐，实验后期数据处理不方便。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供了一种样品升温过程磁化率测定的实验系统，特别适用于测量矿物质不同温度的磁化率，可以测量不同种类，不同粒径，不同温度和不同磁场强度下物质的磁化率。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种样品升温过程磁化率测定的实验系统，包括温控磁化率样品管、分析天平、两磁极和一温控装置，所述温控磁化率样品管位于两磁极之间，所述温控磁化率样品管包括下端封闭的管体、用于封闭管体的管塞、保温套以及热导体，所述管体的管口为磨砂口，与管塞成锥形连接，所述管塞顶部设有一半圆弧吊环，所述半圆弧吊环通过细线与分析天平相连，所述管塞中部设置有手柄，方便移动和套接管塞，所述保温套包裹管口以下的整个管体，由抗磁性保温材料制成，可由聚氨酯材料制成；所述热导体安装在管体内，通过电源线与温控装置相连，可以实时测定样品升温过程中的磁化率，便于研究样品在受热时的磁化率变化规律；管体高10cm处刻有一圈刻度线，较一条刻度线提高了读数准确性，每次装样高度到达刻度线，从而简化了实验数据处理的步骤，提高了实验效率。

优选地，所述管塞的长为2-3cm。

优选地，所述管体下端为平底，高为13-15cm。

优选地，所述管体与管塞均为耐高温抗磁性材料，由石英制成。

优选地，所述热导体为陶瓷制成。

优选地，所述温控装置的温度控制范围为300摄氏度以内。

本实用新型具有以下有益效果：

解决了只有常温下测量物质磁化率的局限性，对测量不同温度下物质磁化率具有重要的现实意义；特别适用于测量矿物质不同温度的磁化率，可以测量不同种类，不同粒径，不同温度和不同磁场强度下物质的磁化率。

附图说明

图1为本实用新型实施例一种样品升温过程磁化率测定的实验系统的结构示意图。

图2为本实用新型实施例中温控磁化率样品管的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的及优点更加清楚明白，以下结合实施例对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-图2所示，本实用新型实施例提供了一种样品升温过程磁化率测定的实验系统，包括温控磁化率样品管、分析天平8、两磁极9和一温控装置10，所述温控磁化率样品管位于两磁极9之间，所述温控磁化率样品管包括下端封闭的管体2、用于封闭管体的管塞3、保温套1以及热导体7，所述管体2的管口为磨砂口，与管塞3成锥形连接，所述管塞3顶部设有一半圆弧吊环5，所述半圆弧吊环5通过细线11与分析天平8相连，所述管塞3中部设置有手柄4，方便移动和套接管塞，所述保温套1包裹管口以下的整个管体，由抗磁性保温材料制成，可由聚氨酯材料制成；所述热导体7安装在管体2内，通过电源线与温控装置10相连，可以实时测定样品升温过程中的磁化率，便于研究样品在受热时的磁化率变化规律；管体2高10cm处刻有一圈刻度线，较一条刻度线提高了读数准确性，每次装样高度到达刻度线，从而简化了实验数据处理的步骤，提高了实验效率，所述管塞3的长为2-3cm，所述管体2下端为平底，高为13-15cm，所述管体2与管塞3均为耐高温抗磁性材料，由石英制成，所述热导体7为陶瓷制成，所述温控装置10的温度控制范围为300摄氏度以内。

其中，细线一端与分析天平连接，另一端也可绑铜质小勾，然后将管塞的吊环与铜质小勾连接。