[实用新型]一种磁阻法测厚仪有效

专利信息
申请号: 201720809880.6 申请日: 2017-07-05
公开(公告)号: CN207050659U 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 谢洁填;郝星星;刘泓希 申请(专利权)人: 中设(深圳)设备检验检测技术有限公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518112 广东省深圳市龙岗区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁阻 测厚仪
【权利要求书】:

1.一种磁阻法测厚仪,其特征是:包括壳体(1),所述壳体(1)上设有具有检测线圈(6)的探头(2),所述探头(2)内设有用于检测探头(2)内光线强弱以输出光强检测信号的光强检测电路(3),所述光强检测电路(3)电性连接有比较光强检测信号小于光强基准信号以输出盖合信号的比较电路(4),还包括用于输出不断变化高低电平的振荡电路(8),所述振荡电路(8)以及比较单路共同电性连接有将盖合信号与振荡信号相与后输出开关信号的与门(9)电路,所述与门(9)电路电性连接有响应于开关信号导通以控制检测线圈(6)开始检测的开关电路(5)。

2.根据权利要求1所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述光强检测电路(3)包括感光三极管VT以及保护电阻R3,其中感光三极管VT的集电极连接于电源VCC,感光三极管VT的发射极串联保护电阻R3后接地,感光三极管VT与保护电阻之间的节点电压为输出的光强检测信号。

3.根据权利要求1所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述比较电路(4)包括用于提供光强基准信号的基准电路(42)以及用于比较光强检测信号小于光强基准信号以输出盖合信号的电压比较器电路(41)。

4.根据权利要求3所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述基准电路(42)包括电阻R2以及电阻R4,所述电压比较器电路(41)包括比较器芯片U,其中电阻R2的一端连接于电源VCC,电阻R2的另一端连接于比较器芯片U的同项输入端,电阻R2的另一端同时串联电阻R4后接地,比较器芯片U的反相输入端电性连接于光强检测电路(3)以接收光强检测信号,比较器芯片U的输出端输出盖合信号。

5.根据权利要求1所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述振荡电路(8)为多谐振荡器电路。

6.根据权利要求1所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述开关电路(5)包括响应于盖合信号导通的三极管开关电路(51)以及受控于三极管开关电路(51)的导通以给检测线圈(6)供电工作的继电器开关电路(52)。

7.根据权利要求6所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述三极管开关电路(51)包括PNP型的三极管VT1以及电阻R5,所述继电器开关电路(52)包括常开式继电器KM1以及续流二极管D1,其中三极管VT1的基极连接于比较电路(4)以接收盖合信号,三极管VT1的基极同时串联电阻R5后连接于电源VCC,三极管VT1的集电极连接于电源VCC,三极管VT1的发射极串联继电器KM1后接地,三极管VT1的发射极同时连接于续流二极管D1的阳极,续流二极管D1的阴极接地,继电器KM1的触头开关串联在检测线圈(6)的供电电路中。

8.根据权利要求6所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述继电器开关电路还电性连接有用于显示检测线圈(6)正在进行检测的指示部(7)。

9.根据权利要求8所述的磁阻法测厚仪,其特征是:所述指示部(7)为发光二极管。

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