[实用新型]一种探针接触测试系统的探针组件

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，特别涉及一种探针接触测试系统的探针组件。

背景技术

在检测芯片是否合格时，通常需要用带电的探针来检测芯片的正负极是否可以导通。现有的探针接触测试系统，在使用一段时间后，探针由于和芯片频繁接触，需要及时更换新的探针，才能确保该探针接触测试系统的检测正确率。

目前市面上大部分的探针是通过焊接的方式固定的，这种固定方式更换非常不方便；还有一部分探针是通过螺钉抵接或者螺栓和螺母的夹持的方式固定，由于芯片和探针的体积较小，从而螺钉或者螺栓螺母的体积也相应较小，同样具有探针更换不方便的缺点。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的是提供一种探针接触测试系统的探针组件，解决了常见探针更换不方便的问题。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种探针接触测试系统的探针组件，包括：若干探针，所述探针包括：针杆，设于所述针杆一端的、与待探测件接触以进行检测的探测部，以及，设于所述针杆的相对于所述探测部的一端的、与所述针杆之间弯曲设置的弯曲部；设有供所述弯曲部插入的插孔的、外侧面与所述针杆相抵接的、连接有测试电源的导电杆；以及，与所述导电杆滑动式装配的、内侧面可与所述针杆相抵接的、用于与所述导电杆夹持固定所述针杆的滑移件。

通过采用上述技术方案，在更换探针时，先将滑移件沿着导电杆滑移至插孔相对于探针的一侧，从插孔中拔出需要更换的探针，再将新的探针的弯曲部插进插孔中，插孔对新的探针具有限制作用，再将滑移件沿着导电杆朝向探针滑移，直至滑移件和导电杆一起将新的探针的针杆夹持固定，即可实现方便对探针进行更换。与常见的探针更换方式相比，不用焊接或者螺钉（或者螺栓和螺母）固定，具有探针易于更换的优点。

进一步的，所述滑移件包括：供部分所述导电杆伸出的滑套，以及，固定于所述滑套的、用于提供弹性回复力以将所述针杆压紧在所述导电杆的弹性件。

通过采用上述技术方案，在滑移件在导电杆上滑移以将针杆夹持固定的过程中，针杆会驱使弹性件收缩，进而在弹性件的弹性回复力的作用下，实现将针杆夹持固定，更加方便更换，以及有利于提高该探针组件的稳定性。

进一步的，所述弹性件包括：与所述滑套的内侧面之间形成弹性缓冲间隙的、可抵接于所述针杆的抵接部，以及，分设于所述抵接部两端、与所述抵接部形成以供所述滑套卡嵌的卡槽结构的弯折边。

通过采用上述技术方案，抵接部在被针杆挤压的过程中，会朝向滑套的内侧面凹陷，进而抵接部产生抵紧针杆的弹性回复力，以实现探针的固定；弯折边可以将抵接部牢固的固定在滑套上，以增加滑移件的稳定性。

进一步的，所述弹性件包括：设有抵接于所述针杆的曲弧面的活动块，以及，若干设于所述活动块和所述滑套的内侧面之间、用于提供驱使所述活动块趋向所述针杆运动的弹性回复力的弹簧。

通过采用上述技术方案，活动块在被针杆挤压的过程中，会朝向滑套的内侧面挤压弹簧，进而弹簧产生弹性回复力以驱使活动块抵紧针杆，以实现探针的固定；曲弧面有利于滑套在滑移的过程中针杆对活动块进行挤压，进一步有利于更换探针。

进一步的，所述滑套的内侧面设有供所述弹簧部分容置并在所述弹簧伸缩时起导向作用的容置槽。

通过采用上述技术方案，在弹簧被挤压而收缩时，容置槽对弹簧具有一定的导向作用，从而滑移件的结构更加稳定，使用寿命更长。

进一步的，所述弯曲部部分伸出所述插孔，所述滑套设有供所述伸出部分通过的缺口。

通过采用上述技术方案，弯曲部的部分伸出插孔，进而在拆卸旧的探针时，可以顺着插孔将探针顶出，有利于快速拆卸探针，进一步提升了更换探针的效率。

进一步的，所述导电杆的相对于所述探测部的一端设有用于固定的扩面部，所述扩面部设有若干螺纹孔，所述螺纹孔用于装配连接有测试电源的螺钉。

通过采用上述技术方案，扩面部增加了导电杆相对于探测部的一端的面积，进而可以设置更多的螺纹孔，以增加导电杆的连接牢固性。

进一步的，所述导电杆设有与所述插孔连通的、供所述针杆嵌入的凹槽。

通过采用上述技术方案，针杆在被导电杆和滑移件夹持的基础上，凹槽同样对针杆具有一定的限制作用，进一步增加了探针的稳定性。

综上所述，本实用新型实施例具有以下有益效果：

其一，具有更换探针方便的优点，同时，制作简单且成本较低；

其二，稳定性高，使用寿命长。

附图说明