[实用新型]一种非接触式检测装置有效
申请号: | 201720728418.3 | 申请日: | 2017-06-21 |
公开(公告)号: | CN206960633U | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 宋晓远 | 申请(专利权)人: | 上海蓝伯科电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/07 | 分类号: | G01R33/07;G05B19/042 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司31266 | 代理人: | 姜龙,翁霞 |
地址: | 201103 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 检测 装置 | ||
1.一种非接触式检测装置,其特征在于,包括检测端和被检测端;
所述的被检测端上设有检测源,检测源包括磁源;
所述检测端上包括磁场强度采集电路、信号预处理电路以及MCU检测电路;
所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关,所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口,所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通,所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理电路;
所述的信号预处理装置,用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换,加固信号强度,防止信号失真,为MCU提供正确的信号;
所述的MCU检测电路输出执行信号。
2.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述磁源包括阵列式布置的两个或两个以上的磁体,相邻所述的磁体同极相对。
3.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的磁源为单一极性的磁性源。
4.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的被检测端上还包括光源,检测端上设有光采集电路,用以采集光源中的光,信号与处理装置将光采集电路中采集到的信号转换为MCU的电子信号。
5.根据权利要求4所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的光源为阵列式排布的光发生装置组成。
6.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的被检测端与电池连接。
7.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的检测端连接独立电源。
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