[实用新型]一种非接触式检测装置有效

专利信息
申请号: 201720728418.3 申请日: 2017-06-21
公开(公告)号: CN206960633U 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 宋晓远 申请(专利权)人: 上海蓝伯科电子科技有限公司
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07;G05B19/042
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司31266 代理人: 姜龙,翁霞
地址: 201103 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种非接触式检测装置,其特征在于,包括检测端和被检测端;

所述的被检测端上设有检测源,检测源包括磁源;

所述检测端上包括磁场强度采集电路、信号预处理电路以及MCU检测电路;

所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关,所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口,所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通,所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理电路;

所述的信号预处理装置,用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换,加固信号强度,防止信号失真,为MCU提供正确的信号;

所述的MCU检测电路输出执行信号。

2.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述磁源包括阵列式布置的两个或两个以上的磁体,相邻所述的磁体同极相对。

3.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的磁源为单一极性的磁性源。

4.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的被检测端上还包括光源,检测端上设有光采集电路,用以采集光源中的光,信号与处理装置将光采集电路中采集到的信号转换为MCU的电子信号。

5.根据权利要求4所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的光源为阵列式排布的光发生装置组成。

6.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的被检测端与电池连接。

7.根据权利要求1所述的非接触式检测装置,其特征在于,所述的检测端连接独立电源。

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