[实用新型]一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子测量技术领域，具体涉及交流耦合信号的耦合电容测量，尤其涉及一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置。

背景技术

现有技术中，LCD屏测试设备发出交流耦合EDP/VBYONE信号传输至LCD屏，进行LCD屏特性和质量测试，通常所述交流耦合EDP/VBYONE信号的发送端和接收端都有一个μF级的耦合电容。在实际测试操作中，经常由于该电容短路、开路、容值错误等异常现象影响点屏效果，出现画异、屏幕不亮等情况，影响通讯和显示效果，导致测试效率低下，严重时甚至会烧毁LCD屏，造成不必要的损失，耽误生产进度，而整个测试链路涉及到仪器、发送端、保护器件、接收端等非常多的器件，很难定位到具体的问题点所在，无法判定故障及采取相应措施。

实用新型内容

鉴于上述现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，可实时测量LCD屏端EDP/VBYONE信号传输中的耦合电容，快速判定耦合电容异常的问题所在。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，包括：恒流产生模块、通道控制模块、参数检测模块、参数存储模块和上位机通讯模块；所述恒流产生模块用于产生一个μA级别的恒流源，使待测耦合电容充电；所述通道控制模块用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块上运行各种控制程序，用于检测、输出所述EDP/VBYONE信号的各种参数；所述参数存储模块用于存储所述参数检测模块的各检测参数；所述上位机通讯模块用于实现所述参数检测模块与上位机的互联。

作为对上述技术方案的改进，所述恒流产生模块为恒流产生电路。

作为对上述技术方案的改进，所述通道控制模块为通道控制电路,包括2个以上CD4052。

作为对上述技术方案的改进，所述参数检测模块包括MCU。

作为对上述技术方案的改进，所述参数存储模块包括EEPROM。

作为对上述技术方案的改进，所述上位机通讯模块包括RS485通讯模块。

与现有技术相比，本实用新型提供的EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，连接在EDP/VBYONE信号测试设备与LCD屏端之间，实现了对LCD屏端EDP/VBYONE信号传输中耦合电容进行实时测量，辅助工作人员及时定位所述耦合电容异常的问题所在，以进一步快速判定EDP/VBYONE信号传输中的故障并采取相应的措施，提高了生产效率。

附图说明

图1是本实用新型一个实施例中EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置的结构示意图；

图2是本实用新型一个实施例中EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置的测量原理线路图。

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

请参见图1，本实用新型提供一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，包括：恒流产生模块10、通道控制模块20、参数检测模块30、参数存储模块40和上位机通讯模块50。所述EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，连接在EDP/VBYONE信号测试设备与LCD屏端之间，用于对EDP/VBYONE信号传输中LCD屏端的耦合电容进行实时测量，以及时准确的定位实际测试操作中LCD屏端耦合电容异常的具体问题点，从而辅助工作人员判定所述EDP/VBYONE信号传输中的故障所在。

请参见图2，所述恒流产生模块10用于产生一个μA级别的恒流源I_X，使待测耦合电容C_X充电；所述通道控制模块20用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块30上运行各种控制程序，用于检测所述EDP/VBYONE信号的各种参数并对整个检测过程进行控制及做出反馈；所述参数存储模块40用于存储所述参数检测模块30的各检测参数；所述上位机通讯模块50用于实现所述参数检测模块30与上位机的互联。