[实用新型]一种USB端口测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电源测试系统，具体涉及一种USB端口测试系统。

背景技术

USB(通用串行总线)是一种外部总线标准，用于规范计算机与外部设备的连接和通讯。目前，越来越多的电子设备设计有USB端口，为了保证USB端口能够正常工作，在电子设备出厂检验以及日常检查时都需要测试USB端口是否满足行业标准，例如USB端口的供电电压以及供电电流是否符合规范，数据传输性能是否良好。通常的测试方法是将一USB负载插入电子设备的USB端口，再通过电子设备的自动测试程序，检查是否能够正常检测到USB负载的存在。对于电子设备存在多个USB端口的情况，需要对每个USB端口进行一一测试，由于相邻USB端口之间有干涉，干涉时插拔容易造成被测产品及测试负载的损坏。并且USB负载在测试时会发热，当发热量过大时，可能会烫伤测试者，或者融化与USB负载接触的塑料件，因此存在较大的安全隐患。另外，目前的USB端口测试一般只能做单一的加载测试，没有兼容其他测试项；如果需要测试其他项，需要借助其他手段来完成。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种USB端口测试系统。

本实用新型提出的技术方案如下。

一种USB端口测试系统，包括N个USB负载模块和M个测试电路，其中，每个USB负载模块包括能够与待测电子设备的USB端口的相应端子通过线缆连接的第一端子和第二端子，每个USB负载模块还包括与第一端子和第二端子对应的模拟负载，N为大于等于2的整数；每个测试电路分别与N个模拟负载连接，M为大于等于1的整数。

优选地，所述M个测试电路包括负载接入测试电路、衰减测试电路、倒灌测试电路和/或短路测试电路。

优选地，所述负载接入测试电路包括连接在每组的第一端子和对应模拟负载之间的第一可控开关；所述短路测试电路包括连接在每组的第一端子和第二端子之间的第二可控开关；所述衰减测试电路包括连接在第一端子和第二端子之间的测试探头。

优选地，所述模拟负载包括第三电阻、第四电阻和第三可控开关，第一可控开关和第四电阻串联连接，第一可控开关和第四电阻组成的串联电路连接在第一端子和第二端子之间，第三电阻和第三可控开关串联连接，第三电阻和第三可控开关组成的串联电路与第四电阻相并联。

优选地，所述USB端口测试系统还包括选择控制电路。

优选地，所述第一可控开关、第二可控开关和/或第三可控开关的控制端连接选择控制电路的相应输出控制信号端口。

优选地，所述衰减测试电路还包括衰减测试控制电路和方波发生器，方波发生器通过第四可控开关或手动开关连接至USB端口测试系统的供电电路；方波发生器与衰减测试控制电路连接，衰减测试控制电路对方波发生器输出的脉冲信号进行放大后经开关输出至各个第一可控开关的控制端。

优选地，所述USB端口测试系统还包括倒灌测试电路，倒灌测试电路包括连接至USB端口测试系统的供电电路的多个串联电阻，串联电阻之间的连接点能够连接至多个可控开关的一端，多个可控开关的另一端连接各USB负载模块的第一端子。

优选地，所述选择控制电路由多个手动开关、多个可控开关或由单片机构成；其中可控开关由继电器或半导体开关构成。

优选地，所述USB端口测试系统还包括散热装置。

本实用新型的有益效果：本实用新型提出的USB端口测试系统采用USB线缆连接USB端口与USB负载，能够消除插拔干涉。并且USB端口测试系统可以同时对多个USB端口进行测试。再者，本实用新型整合了USB Power相关的测试项，如负载接入测试、衰减(Droop)、短路、倒灌等，可以对待测电子设备的USB端口进行多种测试，降低成本的同时也提升了效率。另外本实用新型加入了散热装置，能够保护人身财产安全。

附图说明

图1为本实用新型提出的USB端口测试系统的结构示意图；

图2为本实用新型提出的USB端口测试系统中的USB负载模块电路图；

图3为本实用新型提出的USB端口测试系统中的衰减测试控制电路图；

图4为本实用新型提出的用于衰减测试控制电路的方波发生器；

图5为本实用新型提出的USB端口测试系统中的倒灌测试电路图；

图6为本实用新型提出的USB端口测试系统中的各测试功能手动开关选择控制电路图。

具体实施方式