[实用新型]检测系统有效
申请号: | 201720292448.4 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN206891991U | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 许轩兢 | 申请(专利权)人: | 香港商微觉视检测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;F21S8/00;F21V1/12;F21V17/04;F21W131/403;F21Y115/10 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 梁丽超,陈鹏 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测系统,特别是一种用于检测薄膜的检测系统。
背景技术
对于各式薄膜应用的厂商而言,为了有效控管薄膜加工后生产出的产品质量,各厂商多会利用各式机台设备,对薄膜进行检测,以避免薄膜所存在的瑕疵,造成加工后的产品发生问题。因此,对于各个薄膜应用的厂商来说,如何对薄膜有效地进行瑕疵检测是最重要的问题之一。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种检测系统,用以解决现有薄膜检测装置无法有效地检测出薄膜的瑕疵的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供了一种检测系统,该检测系统用以检测一待测薄膜,检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面是面向线扫描相机的方向设置的;一遮光单元,设置于光源装置的出光面上,遮光单元包含有一狭缝,光源装置的光束仅能通过狭缝射出于遮光单元;以及一载运装置,位于线扫描相机及光源装置之间,载运装置能载运待测薄膜;其中,由狭缝射出的光束能通过待测薄膜而进入线扫描相机中。其中,线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,线扫描相机使用的光圈值定义为F,待测薄膜与光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,线扫描相机与待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,狭缝的宽度定义为D,则D≥L1/L2×W/F。
根据本实用新型的实施方式,遮光单元可拆卸地固定设置于光源装置上。
根据本实用新型的实施方式,遮光单元包含有两个遮光件,两个遮光件可拆卸地固定设置于光源装置,且当两个遮光件固定设置于光源装置时,两个遮光件对应于出光面的位置形成有狭缝。
根据本实用新型的实施方式,各遮光件位于出光面的部分上且对应遮蔽部分的出光面,而由出光面射出的部分光束被两个遮光件所遮蔽。
根据本实用新型的实施方式,形成狭缝的两个遮光件的侧壁彼此相互平行。
根据本实用新型的实施方式,遮光单元为涂布于出光面的不透光层。
根据本实用新型的实施方式,遮光单元包含有一遮蔽部及至少两个固定部,遮蔽部彼此相对的两侧分别与两个固定部相连接,遮蔽部具有狭缝,遮光单元固定于光源装置时,遮蔽部对应位于出光面。
根据本实用新型的实施方式,各固定部可拆卸地固定设置于光源装置上。
本实用新型还提供了一种检测系统,该检测系统用以检测一待测薄膜,检测系统包含:一线扫描相机;一光源装置,对应位于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面是面向线扫描相机的方向设置的;以及一载运装置,位于线扫描相机及光源装置之间,载运装置能载运待测薄膜。其中,线扫描相机的镜头的尺寸定义为W,线扫描相机使用的光圈值定义为F,待测薄膜与光源装置彼此间的垂直距离定义为L1,线扫描相机与待测薄膜彼此间的垂直距离定义为L2,出光面的宽度定义为D,则D ≥L1/L2×W/F。
根据本实用新型的实施方式,出光面为矩形。
本实用新型的有益效果可以在于:可以有效地提升检测系统的检测效果。
为使能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容,请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本实用新型加以限制者。
附图说明
图1为本实用新型的检测系统的示意图。
图2为本实用新型的检测系统的光源装置及遮光单元的局部分解示意图。
图3为本实用新型的检测系统的光源装置及遮光单元的组合示意图。
图4为本实用新型的检测系统的光源装置及遮光单元的另一实施例的示意图。
图5为本实用新型的检测系统的光源装置与遮光单元的又一实施例的示意图。
图6为本实用新型的检测系统所输出的灰阶图。
图7为现有的检测系统在与图6相同条件下输出的灰阶图。
具体实施方式
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