[实用新型]探针座的改良结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种探针座的改良结构，尤指探针座的下基板与上基板间定位有具复数孔隙的绝缘材料，当复数探针穿设于下基板、绝缘材料及上基板中时，可通过绝缘材料来达到便于穿设的效用，且也可避免相邻探针间产生相互接触，而发生短路的情况。

背景技术

按，目前电路板上由复数配线来构成的配线图案(pattern)，其必须向电路板所搭载的IC、半导体或电阻器等电子部件传递正确的电子信号，以往，针对未安装半导体或电子部件等印刷电路板、柔性(flexible)基板、多层配线基板、液晶屏(LCD panel)或等离子显示屏(plasma display panel)等所使用的形成配线图案的电路配线基板，或半导体芯片等基板上所形成的配线图案来作为检测对象，以检测配线图案上所设置的复数检测点间的电阻值，用以判断出其电气特性的良否。

再者，现今为了检测电路板上的配线图案是否按设计完成，便提出了实际应用于各种电路板的检测治具，其一般检测治具大都具有用于处理电气信号的导通状态的检测装置，且检测装置为通过复数导线来电性连接于一检测平台，而该检测平台上方可供放置有测试针座，其测试针座具有利用复数支撑杆来呈上、下间隔设置的复数板材，并在复数板材间穿设有金属材质的复数测试用探针，且复数测试用探针一端为向下穿出板材，以电性连接于复数导线，而复数测试用探针另一端则向上穿出板材，当电路板放置于测试针座上，以进行检测作业时，其复数测试用探针另一端即会电性接触于电路板上配线图案的复数检测点，便可凭借检测装置来检测电路板的配线图案上的复数检测点之间是否电路断开或电路导通。

然而，其因复数测试用探针为由金属材质所制成，所以具有金属本身的弹性，当进行检测作业时，复数测试用探针二端便会受到抵压，而使复数测试用探针中间部位产生变形，以致于复数测试用探针在变形的同时，容易与相邻测试用探针形成电性接触，进而发生短路的情形，所以为了避免此种情形发生，通常会在复数测试用探针中间部位涂布有绝缘层，以防止相邻测试用探针形成电性接触，但是，因复数测试用探针需各别于外表面上涂布有绝缘层，以致于使加工作业复杂，进而提高整体加工上的成本，且若绝缘层涂布不确实、均匀，将会产生探针未电性导通于检测点或复数导线的情形，导致降低使用上的可靠度。

是以，要如何设法解决上述现有的缺失与不便，即为相关业者所亟欲研究改善的方向所在。

发明内容

故，实用新型设计人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考虑，并以从事于此行业累积的多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种探针座的改良结构的新型专利。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种探针座的改良结构，其特征在于：该探针座包括下基板、上基板、绝缘材料及复数探针，其中：

该下基板表面上穿设有复数下通孔；

该上基板位于下基板上方处，并在上基板表面上穿设有组装后会与复数下通孔形成错位状态的复数上通孔；

该绝缘材料定位于下基板及上基板之间，并在绝缘材料内部形成有复数孔隙；

该复数探针为导电材质所制成，并在各探针一侧设有插入至下基板的下通孔内的第一端部，而另一侧则设有插入至上基板的上通孔内的第二端部，再在第一端部与第二端部之间形成有限位于绝缘材料的孔隙中的倾斜部。

所述探针座的改良结构，其中：该下基板的下通孔周围处凹设有下容置槽，并在上基板的复数上通孔周围处凹设有上容置槽，而绝缘材料为软性材质制成且收容于下容置槽及上容置槽内。

所述探针座的改良结构，其中：该下基板的下容置槽周围处穿设有至少一个下定位孔及至少一个下锁孔，而该上基板的上容置槽周围处穿设有对正于至少一个下定位孔及下锁孔处且供预设固定组件穿过以使下基板与上基板固定的至少一个上定位孔及上锁孔。

所述探针座的改良结构，其中：该绝缘材料为发泡材或编织布，且绝缘材料的各孔隙为供插入一根探针。

所述的探针座的改良结构，其中：该绝缘材料中穿设有利用复数玻璃纤维以编织方式制成的玻纤布，其玻纤布内部具有供限位复数探针的倾斜部的复数孔洞。

一种探针座的改良结构，其中：包括检测仪器及探针座，其中：

该检测仪器具有测试平台，并在测试平台内穿设有缆线部的复数导线一端，而缆线部的复数导线另一端则电性连接有用以处理预设电路板的复数测试点间电气信号的导通状态的检测装置；