[实用新型]实验室用的样品颗粒收集装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及功能材料领域，具体是实验室用的样品颗粒收集装置。

背景技术

立方氮化硼（cBN）是一种人工合成的超硬材料，具有类似于金刚石的晶体结构，其硬度仅次于金刚石，利用其高硬度、热稳定性以及化学惰性制成的刀具和磨具，广泛应用于加工各种黑色金属材料及合金；cBN的导带和价带之间的能量间隙很宽，使得其在半导体电子产品和光学装置等功能材料领域的应用前景十分广阔。因此对cBN的性能检测是生产过程中最重要环节，然而，工业合成cBN单晶的颗粒直径大约≤0.5mm，且同一批次的cBN颗粒直径大小不一。在实验室内人工挑选样品存在以下缺点：1、当检测特定粒度大小的cBN单晶的硬度、形貌时，在光学电子显微镜下挑选的cBN单晶样品无法准确知道cBN单晶的晶粒尺度，需在带有刻度尺的载玻片上测量晶粒尺寸大小，测量颗粒比较困难。2、当检测粒度在0.3~0.5mm之间的晶体成分时，通常的方法是将晶体颗粒放在滤纸上，在电子显微镜观察下，用细针在挑拨出所需晶体，然后将单晶颗粒沿滤纸导入样品瓶内。所需颗粒数量至少200粒（大约1克），由于颗粒直径相对较小，挑选过程相对困难，大量的颗粒洒落到电子显微镜旁边，对晶体表面污染，造成材料的浪费。

发明内容

为了节约样品材料，简化实验操作步骤，提高实验准确度，本实用新型提供了实验室用的样品颗粒收集装置。

本实用新型所采用的技术方案是：实验室用的样品颗粒收集装置。主要部件包括底座，垫块，支架，工作台，方形槽，漏斗，样品瓶。底座为圆柱体，在底座上底面上的中心一侧固定有长方体的垫块，上底面的圆周的4等分点处固定有4根等长的圆柱状支架，支架顶端固定带弧形的圆形工作台，工作台的工作界面中心一侧固定5个不同尺寸大小的方形槽，界面中心的另一侧固定漏斗，样品瓶放置在垫块上，漏斗的导管位于垫块上方。

本实用新型的有益效果在于：在本实用中，将粗选的cBN单晶放置在工作台上，当挑选特定粒度的单晶颗粒时，将整套装置放置于电子显微镜在载物台上，在电子显微镜视野下，将所挑选的单晶颗粒拨到带有尺寸的方形槽内，当单晶颗粒正好占满整个方形槽时，所选的单晶颗粒粒度为方形槽的尺寸，然后将单晶颗粒拨到漏斗内，单晶颗粒沿漏斗进入样品瓶，完成样品收集。再者挑选大量单晶颗粒时，可直接在电子显微镜下挑选出所需单晶颗粒，然后拨入漏斗内，单晶颗粒沿漏斗进入样品瓶，完成样品收集。增加了样品颗粒收集效率和简化了实验收集步骤。

附图说明：

图1为本实用新型具体实施方式的结构示意图。图2为本实用新型的上半部分局部结构示意图，图3为本实用新型的下半部分局部结构示意图

图中主要部件包括：1为底座，2为垫块，3为支架，4为工作台，5为方形槽，6为漏斗，7为样品瓶。

具体实施方式：

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过一个具体实施方式并结合附图对本方案进行阐述。

在图1中，实验室用的样品颗粒收集装置。底座1为圆柱体，在底座1上底面的中心一侧固定有长方体的垫块2，底座1上底面的圆周的4等分点处固定有4根等长的圆柱状支架3，支架3顶端固定带弧形的圆形工作台4，工作台4的工作界面中心一侧固定5个不同尺寸大小的方形槽5，界面中心的另一侧固定漏斗6，样品瓶7放置在垫块2上，漏斗6的导管位于垫块2上方。

本实用新型的工作原理是：将粗选的cBN单晶放置在工作台4上，挑选特定粒度的单晶颗粒时，将整套装置放置于电子显微镜在载物台上，在电子显微镜视野下，将所挑选的单晶颗粒拨到带有尺寸的方形槽5内，当单晶颗粒正好占满整个方形槽5时，所选的单晶颗粒粒度为方形槽5的尺寸，然后将单晶颗粒拨到漏斗6内，单晶颗粒沿漏斗6进入样品瓶7，完成样品收集。