[实用新型]一种超声波测厚仪有效
| 申请号: | 201720158834.4 | 申请日: | 2017-02-21 |
| 公开(公告)号: | CN206593614U | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
| 发明(设计)人: | 王新旭;魏新翠 | 申请(专利权)人: | 无锡市弘泰检测科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 超声波 测厚仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及物理测量装置,特别涉及一种超声波测厚仪。
背景技术
超声波测厚仪,是根据超声波脉冲原理来进行厚度测量的仪器。当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
目前,公开号为CN203908519U的中国专利公开了一种超声波测厚仪,它包括本体和探头,所述探头设置在所述本体的下端,所述本体正面上部设置有显示屏,所述本体中部设置有多个按键,所述本体原理所述显示屏的一端设置有沉孔,所述沉孔内底部设置有插座,所述探头通过所述插座与所述本体进行电相连。
这种超声波测厚仪即可分体使用又能够一体式使用,本实用新型为实现此目的提供另一种方案。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种超声波测厚仪,其具有即可分体使用又可一体式使用的优点。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:
一种超声波测厚仪,包括本体、探头以及显示屏,其特征在于:所述的本体的上端开设有螺纹孔,探头的一端设有与螺纹孔相匹配的外螺纹,探头与本体之间连接有导线,本体的上端转动连接有供导线卷绕的绕线柱,绕线柱包括设于本体上方的旋钮和设于本体内的卷绕柱。
通过采用上述技术方案,一体式使用超声波测厚仪时,首先对旋钮进行旋转,从而带动本体内的卷绕柱进行转动,卷绕柱的转动带动导线卷绕至自身,导线逐渐全部绕至本体内,此时通过外螺纹将探头螺纹连接至螺纹孔内,使得探头与本体保持固定,从而进行一体式使用,当需要分体使用超声波测厚仪时,将探头从螺纹孔中旋出,对旋钮进行沿刚才方向相反的方向进行转动,使得绕至卷绕柱上的导线逐渐松开,再将探头向外拉,使得本体内的导线逐渐运动至本体外,根据需要使用的长度来确定需要将导线露出多少,从而进行分体使用,使得整个超声波检测仪具有即可分体使用又可一体式使用的优点。
进一步设置:本体的上端设有用于放置导线和卷绕柱且与螺纹孔相连通的空腔。
通过采用上述技术方案,通过空腔为卷绕柱以及导线提供了足够的放置空间,使得卷绕柱的转动更加方便,同时也使得卷绕柱对于导线的卷绕效果更好,在超声波测厚仪进行分体使用时,导线依次从空腔以及螺纹孔中穿出与探头进行连接,便于探头与本体之间的连接,使得对于探头的使用更加简便。
进一步设置:卷绕柱上侧同轴设有直径大于自身直径的限位板,限位板与空腔上侧的内壁之间连接有压缩弹簧。
通过采用上述技术方案,在自然状态下,由于限位板与空腔的内壁之间连接有压缩弹簧,所以压缩弹簧对限位板施加向下的回复力,由于限位板固定于卷绕柱上,卷绕柱又与旋钮相连接,所以此时旋钮与本体相抵触,使得整个卷绕柱不易产生偏移,使得导线易于保持固定长度。
进一步设置:卷绕柱的下端同轴设有限位齿轮,空腔下侧的内壁开设有供限位齿轮嵌入的限位槽。
通过采用上述技术方案,对卷绕柱进行转动时,首先将旋钮向上提起,使得限位齿轮脱离于限位槽,再对旋钮进行转动,使得卷绕柱进行转动,从而进行绕线或者放线,当绕线或者放线完成时,撤去对旋钮的力,旋钮在压缩弹簧弹性回复力的作用下回复至原位,限位齿轮也再次嵌入至限位槽中,对卷绕柱进行限位,使得卷绕柱保持固定,也使得导线露出本体外的长度保持不变,使得整个超声波测厚仪的使用更加方便。
进一步设置:限位槽内设有与卷绕柱同轴且嵌入至卷绕柱下端的导向柱。
通过采用上述技术方案,在对卷绕柱进行提起或者放下时,通过导向柱对卷绕柱的滑移方向进行限制,使得卷绕柱只沿竖直方向进行滑移,而不易产生其他方向的偏移,使得卷绕柱的使用更加稳定。
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:通过卷绕柱的转动来对导线进行收线或者放线,可以在卷绕柱的侧面上开设与导线形状相匹配的绕线槽,从而在对导线进行卷绕时,使得导线有序的被卷绕,从而不易使导线杂乱无序的进行卷绕,使得卷绕柱进行收线或者放线时更加流畅。
附图说明
图1是本实施例超声波测厚仪的结构示意图;
图2是本实施例空腔的结构示意图;
图3是本实施例绕线柱在空腔内的位置示意图;
图4是本实施例绕线柱的结构示意图;
图5是本实施例超温提示系统的原理框图;
图6是本实施例超温提示系统的电路图;
图7是本实施例超声波测厚仪一体使用时的结构示意图。
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