[实用新型]一种透射电镜磁性样品预处理器

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子显微镜样品制备和预处理的技术领域，特别涉及一种透射电镜磁性样品预处理器。

背景技术

磁性样品是非常重要的一类材料，尽管有可能会对透射电镜产生损坏，但微观结构的测试必不可少。目前，关于透射电镜观察前对磁性纳米材料进行预处理的方法有以下几种：(1)手握小型磁铁与固定在样品杆前端并附有磁性样品的载网相互作用，将与载网附着不牢固的磁性样品去除；(2)使用市场上售卖的双联网支持膜将样品夹在两个碳膜之间；(3)使用消磁器。

然而，第一种预处理方法存在的问题如下，通常的实验室很难直接获得磁性较强且形状规则的磁铁，既使有，用手操作时，磁铁与镜筒真空直接接触的样品杆端部难免会发生接触甚至碰撞，从而对样品杆产生损坏或污染，甚至损坏镜筒真空。第二种预处理方法存在两个问题，首先当磁性样品的尺寸较大时，颗粒会将碳膜压破从而起不到固定的作用，另外双联网支持膜的使用会降低电子束的透过率，从而显著降低样品的低倍和高分辨成像的质量，其同样会影响观察和测试过程。第三种预处理方法虽然能够降低磁性样品的磁性，但是当消磁后的磁性样品放入电镜镜筒中时，物镜产生的强大磁场(接近2T的磁场强度)同样会将样品磁化，最终吸附到物镜极靴周围。因此，现有的透射电镜观察前对磁性纳米材料进行预处理的方法难以在有效避免污染样品杆及电镜的同时又能确保不会影响观察和测试过程。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种透射电镜磁性样品预处理器，从而克服现有的透射电镜观察前对磁性纳米材料进行预处理的方法难以在有效避免污染样品杆及电镜的同时又能确保不会影响观察和测试过程的缺点。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种透射电镜磁性样品预处理器，其中，包括：基座；样品杆支撑体，其设置于所述基座上，该样品杆支撑体用于安放样品杆；转动座，其以能够转动的方式设置于所述基座上，该转动座与所述样品杆支撑体的前端对应；以及两个磁体，两个该磁体上下相对地设置于所述转动座上；当样品杆安放于所述样品杆支撑体上时，通过所述转动座的转动能够使固定在样品杆的前端的载网位于两个该磁体之间。

优选地，上述技术方案中，所述样品杆支撑体为一样品杆套筒，该样品杆套筒的前端设置有开口，且该样品杆套筒包括：套筒下半圆体，其设置于所述基座上；套筒上半圆体，其一侧铰接于所述套筒下半圆体的一侧；以及锁紧机构，所述套筒上半圆体的另一侧与所述套筒下半圆体的另一侧通过该锁紧机构进行锁紧。

优选地，上述技术方案中，所述样品杆套筒的前端以能够拆卸地设置有一个样品杆帽体。

优选地，上述技术方案中，所述基座上设置有支撑柱，所述套筒下半圆体固定于所述支撑柱的上端。

优选地，上述技术方案中，所述转动座设置于一个旋转轴的上端，所述旋转轴的下端以能够转动的方式设置于所述基座上。

优选地，上述技术方案中，所述转动座上设置有一顶板和一位于所述顶板的下方的底板，所述顶板和所述底板之间形成一磁体安装槽；其中一个所述磁体设置于所述磁体安装槽的顶壁，且另一个所述磁体设置于所述磁体安装槽的底壁。

优选地，上述技术方案中，所述磁体为磁铁或电磁铁。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型能够通过两个磁体来模拟透射电镜的磁场，当样品杆安放于样品杆支撑体上时，通过转动座的来回转动使两个磁体能够精确快速地去除与样品杆的载网粘附不牢固的磁性样品，从而保护透射电镜的镜筒不受污染，效提高工作效率。

2、本实用新型的样品杆支撑体为样品杆套筒，其能够在去除载网上粘附不牢固的磁性样品的过程中对样品杆进行防护，避免样品杆被杂质或灰尘等污染，且样品杆套筒分成套筒下半圆体和套筒上半圆体两部分，样品杆不是通过插入的方式安放到样品杆套筒内，从而减少样品杆上O型圈的磨损，以降低电镜真空遭到破坏的危险。

附图说明

图1是根据本实用新型透射电镜磁性样品预处理器的结构示意图。

图2是根据本实用新型的转动座的结构示意图。

图3是根据本实用新型的样品杆套筒的结构示意图。

主要附图标记说明：