[实用新型]一种转子综合测试台有效

专利信息
申请号: 201720133015.4 申请日: 2017-02-15
公开(公告)号: CN206523603U 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 李磊;何省文;谢万蛟;仲大权 申请(专利权)人: 苏州韦贝电机科技有限公司
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司32293 代理人: 韩凤
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 转子 综合测试
【权利要求书】:

1.一种转子综合测试台,其特征在于:其包括测试工装台、测试控制柜,所述测试控制柜上包括有波形显像结构,所述测试控制柜上设置有空间磁场扫描装置,所述测试工装台包括机架,所述机架的上端面布置有转子支承架、转子驱动转轴架,所述转子支承架、转子驱动转轴架分别位于所述机架的上端面的两侧布置,所述转子支承支架用于支承安装好转子的芯轴,所述转子驱动转轴架支承有转子驱动转轴,所述转子驱动转轴连接转动电机的输出端,所述芯轴可插装于所述转子驱动转轴的定位槽孔内,所述空间磁场扫描装置朝向芯轴、转子布置、用于捕捉转子转动时的磁场。

2.如权利要求1所述的一种转子综合测试台,其特征在于:所述转子支承架的底部卡装于直线导轨,所述转子支承架沿着所述直线导轨朝向或远离所述转子驱动转轴架运动,所述转子支承架上端设置有四段两两相向平行布置的连接轴,每根所述连接轴上分别套装有滚轮,位于同一端的两个滚轮组合形成一个滚动支承面,两个滚动支承面用于支承芯轴。

3.如权利要求2所述的一种转子综合测试台,其特征在于:所述芯轴的外环面设置有键结构,所述芯轴用于固定待测试转子,所述键结构插装于待测试转子对应的键槽内,所述芯轴的键结构对应于两个所述滚动支承面的位置处断开。

4.如权利要求3所述的一种转子综合测试台,其特征在于:所述转子驱动转轴架固装于所述机架的上端面,所述转子驱动转轴架的高度方向对应于所述芯轴位置处支承有所述转子驱动转轴,所述转子驱动转轴对应于所述芯轴的一端内凹形成定位槽孔,所述定位槽孔内包括有键槽结构,所述转子驱动转轴的另一端通过带轮、皮带连接转动电机的输出端。

5.如权利要求1所述的一种转子综合测试台,其特征在于:所述转动电机固装于所述机架的上端底面。

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