[实用新型]一种封帽对中比对管

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电二极管技术领域，尤其涉及一种封帽对中比对管。

背景技术

现有的光电二极管在封装封帽时，需要保证透镜帽和芯片同心±30um内，但是，目前的检测工具结构复杂、使用繁琐且效率低，不适合大批量的抽检。

实用新型内容

本实用新型主要是解决现有技术中所存在的技术问题，从而提供一种结构简单、使用方便、适合的大批量的抽检的封帽对中比对管。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

本实用新型提供的封帽对中比对管，其包括比对管本体，所述比对管本体上自外向内依次开设有相互同心的第一比对孔和第二比对孔，所述第一比对孔的内表面与光电二极管的底座外圆面相匹配，所述光电二极管的底座上设有芯片，所述芯片的出光面与所述底座相互同心，且所述芯片的外部还套设有透镜帽，所述透镜帽的外圆面与所述第二比对孔相匹配。

进一步地，所述第一比对孔的深度等于所述底座的厚度。

进一步地，所述第二比对孔的深度大于所述透镜帽的高度。

进一步地，所述比对管本体采用透明材质制作而成。

本实用新型的有益效果在于：通过在比对管本体上自外向内依次开设相互同心的第一比对孔和第二比对孔，利用第一比对孔和第二比对孔对光电二极管的底座和透镜帽的同心度进行检测，而芯片的出光面与底座的相互同心，从而可以换算出透镜帽和芯片的同心度，其不仅结构简单、使用方便而且能适合的大批量的抽检。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的封帽对中比对管的使用状态图；

图2是本实用新型的封帽对中比对管的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

参阅图1-2所示，本实用新型的封帽对中比对管，其包括比对管本体1，比对管本体1上自外向内依次开设有相互同心的第一比对孔2和第二比对孔3，第一比对孔2的内表面与光电二极管4的底座5外圆面相匹配，光电二极管4的底座5上设有芯片6，芯片6的出光面与底座5相互同心，且芯片6的外部还套设有透镜帽7，透镜帽7的外圆面与第二比对孔3的内表面相匹配。

本实用新型通过在比对管本体1上自外向内依次开设相互同心的第一比对孔2和第二比对孔3，利用第一比对孔2和第二比对孔3对光电二极管4的底座5和透镜帽7的同心度进行检测，而芯片6的出光面与底座5的相互同心，从而可以换算出透镜帽7和芯片6的同心度，其不仅结构简单、使用方便而且能适合的大批量的抽检。

较佳地，第一比对孔2的深度等于底座5的厚度，在检测过程中，通过观测底座5的底部与比对管本体1的底部是否齐平，就可对底座5的厚度是否合格进行初步判断，从而提升了光电二极管4的产品质量检测效率和效果。

本实施中，为了避免第二比对孔3的底部与透镜帽7相干涉，第二比对孔3的深度大于透镜帽7的高度。

优选地，为了方便观测光电二极管4在第一比对孔2和第二比对孔3内的状态，比对管本体1采用透明材质制作而成。

以上，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。