[实用新型]一种方便信号测试的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，特别涉及一种方便信号测试的装置。

背景技术

随着智能设备体积越来越小，功能越来越强大，主板上预留测试的空间越来越少，对于一些必要测试的信号，如摄像头，屏，指纹，卡座等，目前大多数的方案是在电容，电阻（这些器件很可能放在屏蔽罩内，更加增加信号引出的难度）或者连接器PIN脚上焊接极细的铜丝连接出来再去测试各类信号，分析问题。

常用的连接器如图1（ZIF（Zero Insertion Force）连接器）和图2（BTB连接器）所示。这些连接器常用于前后摄像头、屏幕、TP（TOUCHPANEL，触摸屏）、指纹模组、按键、小板连接等。以后摄像头为例，常通过BTB（板对板）连接器将后摄像头和主板连接在一起。后摄像头一般要测试四个电源信号、一个RESET（复位）信号、一个CLK（时钟）信号。若要分析问题，则所有的信号都要通过铜丝引出来进行测量，用来辅助分析。但是从图中的尺寸（单位为mm）可以看出单个引脚的焊盘小于0.15mm，引脚之间的间距很小，很不方便焊接铜丝。

若要验证一个T卡（即TF卡，又称microSD，一种极细小的快闪存储器卡）的信号质量，则需要焊接8根信号线，这样不仅非常耗费时间，而且极细的铜丝容易拉断，导致测试效率很低。

因此有必要对现有技术进行改进。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种方便信号测试的装置，以解决现有信号测试时连接器的引脚太小、引脚之间的间距很小不方便引出和焊接的问题。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种方便信号测试的装置，其包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。

所述的方便信号测试的装置中，所述基板为一条软排线或PCB板，在所述软排线或PCB板上设置若干条并行排列的信号线。

所述的方便信号测试的装置中，所述各信号线的中间设置对应的测试点，各测试点的位置按照各信号线的排列顺序依次错位设置，各测试点之间间隔第一预设距离。

所述的方便信号测试的装置中，在所述基板上，根据各信号线的排列顺序依次设置一条连线，与信号线个数匹配的测试点设置在基板的一侧或两侧，各连线之间相隔第二预设距离，连线的一端与对应的信号线电连接，连线的另一端连接对应的测试点。

所述的方便信号测试的装置中，所述测试点的直径为1mm～2.5mm，测试点之间的间距大于2mm且小于等于5mm。

所述的方便信号测试的装置中，所述测试点上设置有丝印层，所述丝印层用于丝印该测试点对应的信号线的序号。

所述的方便信号测试的装置中，所述公头、母头为BTB连接器的公头、母头。

所述的方便信号测试的装置中，所述公头、母头为ZIF连接器的公头、母头。

相较于现有技术，本实用新型提供的一种方便信号测试的装置，包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。通过直接在基板上设置信号线的测试点，用户焊接测试点即可对相应的信号进行测试，大大方便了信号线的引出和焊接，提高了测试效率。

附图说明

图1为现有ZIF连接器的引脚示意图。

图2为现有BTB连接器的引脚示意图。

图3为本实用新型提供的方便信号测试的装置一实施例的示意图。

图4为本实用新型提供的方便信号测试的装置另一实施例的示意图。

图5为本实用新型提供的方便信号测试的装置中BTB连接器的TOP面的走线图。

图6为本实用新型提供的方便信号测试的装置中BTB连接器的BOT面的走线图。

图7为本实用新型提供的方便信号测试的装置中ZIF连接器的TOP面的走线图。

图8为本实用新型提供的方便信号测试的装置中ZIF连接器的BOT面的走线图。

具体实施方式