[实用新型]一种人工晶状体光谱透过率测工装设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及人工晶状体光谱透过率测量，是一种辅助测量工装。

背景技术

光谱透过率测试是人工晶状体必须要做的试验之一，也是判断人工晶状体性能的一个重要指标，直接影响人工晶状体的成像质量及有害光的透过滤，普通测量人工晶状体光谱透过率是把人工晶状体直接放置于比色皿中，通过紫外分光光度计进行测量，在测量过程中因晶状体漂浮或者振动都会造成测量不准确，形成光谱漂移，因此测量人工晶状体光谱透过率非常困难，需要反复测量才能得到一个比较好的曲线。本实用新型提供的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，降低了人工晶状体光谱透过率的测量难度，并且极大的提高了测量效果和测量准确率。

发明内容

本实用型的目的在于，克服现有技术设备不足之处，提供一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，提高人工晶状体光谱透过率的测量效果与效率。

本实用新型所述的一种人工晶状体光谱透过率测定工装设备，其特征是：工装设备主体由大小相等的两部分组成，两个部分通过卯榫结构结合在一起，材料比重大，晶托和盖子两部分在相同位置开有等半径透光孔，其孔径略大于人工晶状体光学半径。其中，盖子为带有卯眼部分，晶托为带有榫头部分，两部分组合形成人工晶状体卡槽，可以把待测量人工晶状体固定在等半径透光孔中间而避免透过面发生偏移使得测量数据精确度更高。并且设备主体由亚光黑色材质做成，抗反射光干扰，提高了测量的准确性。

本实用型所述的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，整体结构简单，操作简单方便，稳定性好，可靠性高。使用本实用型所述的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，既能提高测量效果，又能提高测量准确率。

附图说明

附图1是本实用新型所述一种人工晶状体光谱通过率测工装设备的结构示意图。

图1 人工晶状体光谱通过率测工装设备。

附图1中：1—盖子，2—晶托，3—卯眼，4—榫头，5—透光孔，6—晶体卡槽。

具体实施方式

现参照附图1，结合实例说明如下：本实用新型所述的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，包括如图所示1与2两个拼接成主体部分。本实用新型所述的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备：

1. 测量时，首先分开晶托和盖子两个部分。

2. 用镊子将人工晶状体放入晶托上通光孔处的卡槽部分，对准插槽将晶托和盖子结合在一起。

3. 将装有人工晶状体的工装放入盛有纯化水的比色皿里，擦拭比色皿外壁，放入分光光度计内开始测量。

使用本实用新型所述的一种人工晶状体光谱透过率测工装设备，操作使用方便，稳定性好，可靠性高，既缩短了测量时间，又提高了测量效果与准确性。