[发明专利]一种红外图谱关联遥感设备的测谱补偿方法有效

专利信息
申请号: 201711487310.0 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108387547B 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 张天序;余俊延;刘小妹;姚守悝;张耀宗;黄伟;陆檑;周灿新 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01N21/27
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 红外图谱 遥感设备 关联 光谱数据 工作温度变化 实测光谱数据 采集 外场测量 温度数据 约束条件 求解 外部 实测 叠加 测量
【权利要求书】:

1.一种红外图谱关联遥感设备的测谱补偿方法,其特征在于,包括下述步骤:

(1)获取ti时刻红外图谱关联遥感设备的内部工作温度数据Ti,对内部工作温度数据Ti进行处理后获得红外图谱关联遥感设备的工作温度变化规律;

(2)采集ti时刻下多组红外图谱关联遥感设备的内部谱和外部谱叠加的光谱数据,并对每个时间点获取的多组光谱数据进行平均处理后获得该温度下的光谱数据平均值;

(3)根据工作温度变化规律和各个温度下的实测光谱数据平均值建立红外图谱关联遥感设备内部谱的获取模型;

(4)利用约束条件对内部谱的获取模型进行求解,估计获得多个随温度Ti变化的内部谱

(5)根据实际外场测量时采集的红外图谱关联遥感设备的内部工作温度以及所述多个随温度Ti变化的内部谱获得该次测量中与该温度对应的内部谱根据实测的光谱数据和该温度Ti对应的内部谱获得补偿后的外部谱

2.如权利要求1所述的测谱补偿方法,其特征在于,所述内部谱的获取模型包括:内部谱恒定模型和外部谱恒定模型;

内部谱恒定模型是在测量开始时间t1至测量中间时间t2内,红外图谱关联遥感设备的内部工作温度恒定时建立的,内部谱是恒定的,外部谱随时间变化线性增长;

外部谱恒定模型是在测量中间时间t2至测量结束时间t4内,红外图谱关联遥感设备的内部工作温度线性增长时建立的,外部谱是恒定的,内部谱随时间变化线性增长。

3.如权利要求2所述的测谱补偿方法,其特征在于,所述内部谱恒定模型为

其中分别为实测的温度为T1、T2时红外图谱关联遥感设备的内部谱和外部谱叠加的光谱,分别为估计的温度为T1、T2时外部谱,分别为估计的温度为T1、T2时内部谱,J1是正比于的倍数。

4.如权利要求2所述的测谱补偿方法,其特征在于,外部谱恒定模型为

其中分别为实测的温度为T2、T4时红外图谱关联遥感设备的内部谱和外部谱叠加的光谱,分别为估计的温度为T2、T4时外部谱,分别为估计的温度为T2、T4时内部谱;J2是正比于的倍数。

5.如权利要求1-4任一项所述的测谱补偿方法,其特征在于,在步骤(4)中,所述约束条件包括:内部谱递增约束条件和外部谱递增约束条件;

所述内部谱递增约束条件为:t2→t4时间段内的内部谱比t1→t2时间段内的内部谱高;

所述外部谱递增约束条件为t2→t4时间段内的外部谱比t1→t2时间段内的外部谱高。

6.如权利要求1-4任一项所述的测谱补偿方法,其特征在于,在步骤(5)中,补偿后的外部谱

其中,k是加权系数,可根据环境温度来调整系数k的大小。

7.如权利要求1-4任一项所述的测谱补偿方法,其特征在于,在步骤(1)之前还包括:通过给红外图谱关联遥感设备的探测光学窗口加上黑色盖板,实现红外图谱关联遥感设备在正常工作时,红外图谱关联遥感设备内的光机电构装置发热使得光谱仪模块周围的环境温度升高。

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