[发明专利]一种天馈调整方法、装置及系统

权利要求书

1.一种天馈调整方法，其特征在于，包括：

接收基站在设定时间段内采集的终端测量报告MR样本；

将接收的每个MR样本与MR指纹库的空间栅格进行匹配，确定出每个MR样本对应的栅格，其中，对应有MR样本的栅格为有效栅格；

根据每个有效栅格对应的所有MR样本确定所述有效栅格归属的基站；

根据归属于每个基站的有效栅格确定所述基站调整的变量；

根据所述变量指示所述基站进行天馈调整。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据每个有效栅格对应的所有MR样本确定所述有效栅格归属的基站，包括：

确定每一个有效栅格对应的所有样本中由每个基站采集的MR样本数；

确定采集的MR样本数最多的基站为所述有效栅格归属的基站。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，根据归属于每个基站的有效栅格确定所述基站调整的变量，包括：

确定归属于每一基站的所有有效栅格的特征向量；

根据有效栅格的特征向量将归属于所述基站的所有有效栅格聚类为至少两个栅格簇；

根据所述至少两个栅格簇中每个栅格簇的中心与基站的相对位置确定所述基站调整的变量。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据有效栅格的特征向量将归属于所述基站的所有有效栅格聚类为至少两个栅格簇，包括：

根据有效栅格的特征向量将归属于所述基站的所有有效栅格聚类为3个栅格簇；

根据所述至少两个栅格簇中每个栅格簇的中心与基站的相对位置确定所述基站调整的变量，包括：

由下式确定栅格簇最佳方位角：

其中，θ_p为栅格簇Y中有效栅格p中心位置与基站的连线，相对正北顺时针方向的角度，s_p为有效栅格p对应的权重，p为有效栅格的序号数，P为栅格簇Y中包含的有效栅格数；

由下式确定栅格簇最佳下倾角：

其中，h为基站的高度，d_Y为栅格簇Y最佳距离，且由下式确定栅格簇Y最佳距离：

其中，d_p为栅格p中心点位置与基站的连线距离。

5.一种天馈调整装置，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收基站在设定时间段内采集的终端测量报告MR样本；

处理模块，用于将接收的每个MR样本与MR指纹库的空间栅格进行匹配，确定出每个MR样本对应的栅格，其中，对应有MR样本的栅格为有效栅格，根据每个有效栅格对应的所有MR样本确定所述有效栅格归属的基站，根据归属于每个基站的有效栅格确定所述基站调整的变量；

指示模块，用于根据所述变量指示所述基站进行天馈调整。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理模块具体用于：

确定每一个有效栅格对应的所有样本中由每个基站采集的MR样本数；

确定采集的MR样本数最多的基站为所述有效栅格归属的基站。

7.如权利要求5或6所述的装置，其特征在于，所述处理模块具体用于：

确定归属于每一基站的所有有效栅格的特征向量；

根据有效栅格的特征向量将归属于所述基站的所有有效栅格聚类为至少两个栅格簇；

根据所述至少两个栅格簇中每个栅格簇的中心与基站的相对位置确定所述基站调整的变量。