[发明专利]激励生成装置的模板库构建方法、芯片验证方法及系统

说明书

本发明涉及一种激励生成装置的模板库构建方法、装置、芯片验证方法及系统，通过对芯片验证覆盖率数据的分析得到目标激励，将得到的目标激励对应的约束文件添加至模板库，进行模板库构建。由于目标激励对芯片验证的覆盖率提升贡献达到了期望，使用这些目标激励对应的约束文件构建的模板库中的约束文件生成验证激励，进行芯片验证，相当于使用目标激励进行芯片验证，这可以有效的提高芯片验证的效率。

技术领域

本发明涉及验证技术领域，特别是涉及一种激励生成装置的模板库构建方法、装置、芯片验证方法、系统、存储介质及计算机设备。

背景技术

芯片验证的其中一个目的是检测芯片上运行的程序是否存在bug。在芯片验证时，芯片验证系统的RTL仿真器(Register Transfer level simulation)和验证模型执行激励生成装置生成的验证激励，输出执行结果，芯片验证系统的处理器根据该输出结果得到覆盖率数据，并根据得到的覆盖率数据是否达到预期判断芯片验证是否终止。覆盖率(Coverage)数据是用来评价验证过程与结果的一种量化指标。

目前在使用芯片验证系统进行芯片验证时产生激励的机制包括：

1)基于应用(Application based)生成激励：根据需测试的应用程序设置的约束文件(config-file)生成激励。

2)随机(Random)生成激励：根据随机产生约束文件(config-file)生成激励。

3)基于模板(Template base)生成激励：根据激励生成装置模板库中的约束文件(config-file)生成激励。模板库中约束文件包含根据需验证芯片的基本功能点设置的约束文件，以及对覆盖率的提升影响较高的激励对应的约束文件。

芯片验证的基本功能点会随验证的需求(DUT/DUV design under test/verification)或芯片类型的改变而改变。例如：对于CPU而言，基本功能点可以包括浮点运算，定点运算，任务调度，内存分配，内存管理，数据IO。而对于人工神经网络芯片而言，基本功能点可以包括人工神经网络运算(比如卷积运算，矩阵运算，全连接运算)，任务调度，内存分配，内存管理，数据IO。

一般情形下，芯片验证得到的覆盖率数据涉及的激励越全面，RTL仿真器运行通过的激励越多，该芯片验证的覆盖率也就越高，对应验证的芯片的“保障程度”同样也越高。

在芯片验证时，随着RTL仿真器和验证模型执行的激励数的增多，覆盖率会相应的提升。但是，覆盖率在提升到一定数值后，即使RTL仿真器继续执行激励，覆盖率也难以提升。因此，在进行芯片验证时，如何快速的获取对覆盖率提升影响大的激励便成为亟需解决的技术问题。

发明内容

基于此，本发明提出了一种模板库的构建方法以及芯片验证方法，以实现加速覆盖率收敛，提高芯片验证效率。

一种激励生成装置的模板库构建方法，包括：

对芯片验证的覆盖率数据进行数据分析，得到与验证激励对应的覆盖率提升值；

将所述覆盖率提升值和预设阈值进行比较，根据比较结果得到目标激励；

将所述目标激励对应的约束文件添加至激励生成装置的模板库。

一种芯片验证的方法，包括：从上述方法获取的模板库中获取约束文件；按照预设规则对所述约束文件中的约束条件进行调整，得到最终约束条件；

根据所述最终约束条件生成验证激励。

在其中一个实施例中，所述从模板库中获取约束文件的步骤包括：

获取与所述模板库中约束文件对应的覆盖率提升值；

根据所述覆盖率提升值的大小从模板库中获取约束文件。