[发明专利]电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置及测定方法

说明书

本发明涉及一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，包括位于电磁灶面板的下方的红外探头、红外光源，与红外探头、红外光源电连接的控制器，红外光源位于红外探头旁且与红外探头在电磁灶面板上的检测区域相匹配。本发明还涉及一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定方法，在电磁灶面板上未放置非透红外目标体时，获取红外探头检测红外光源开关状态下获取的红外能量差；在电磁灶面板上放置非透红外目标体后，获取红外探头检测红外光源开关状态下获取的红外能量差，进而计算获取电磁灶上非透红外目标体的反射率以及发射率。本发明中的测定装置结构简单，测定方法操作方便容易，能够在用户使用过程中进行测定。

技术领域

本发明涉及温度检测技术领域，特别涉及一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，还涉及电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定方法。

背景技术

在现有测温技术中，有接触测温和非接触测温两大类。接触测温一般使用热敏电阻或是热电偶等热敏器件。接触测温本身就会有延迟，因为待测物体要传热给热敏器件，才能进行测量。并且热敏器件的温度耐受能力有限，应用在高温器件测温环境中老化速度快，并且在一些应用环境中也无法实现与测温目标物的直接接触，应用范围受限。

非接触测温主要是红外测温，通常采用红外温度传感器进行测温。红外温度传感器主要利用辐射热效应，使得使探测器件接收辐射能后引起温度升高，进而使红外温度传感器中某一性能随着温度的变化而发生变化，进而获取温度信号。

根据光学原理，α+ρ+τ＝1，其中α表示吸收率，ρ表示反射率，τ表示透射率。根据基尔霍夫定律可知，α＝e，其中e表示发射率，对于不透明材质的物体，τ＝0，则有e+ρ＝1，即不透明物体表面的反射率越高和发射率成反比。红外测温中，发射率的测定是必须进行的工作。而红外温度传感器在生产时会使用发射率接近1的黑体进行温度标定。不同的生产商选用的黑体的反射率不尽相同，但是红外温度传感器中的发射率则设定为一个固定值。同样温度的物体，会因为材质的不同而导致物体的发射率不同，进而会引起温度测量误差。

授权公告号为CN101435721B(申请号为200810134154.4)的中国发明专利《红外目标温度校正系统和方法》，其中即采用发射率接近于1的目标进行校正工作。在实际测温过程中，非透红外目标体的发射率与红外温度传感器选定的发射率很难保持一致，这种反射率的差距会直接影响红外温度传感器对目标体温度的测量结果，导致检测获取的温度结果会存在较大的误差。

电磁灶上放置的锅具等进行测温时，由于有电磁灶的面板阻隔因素，电磁灶上放置物品的红外测温相应比较繁琐。利用电磁灶内的红外温度传感器对放置在电磁灶上的物品进行测温时，存在以下难题：锅底表面发射率未知；面板红外线透过率未知；面板也有较高的温度，也会发射红外线。为了解决这些测温的难题，则出现了在面板上对应红外温度传感器的位置开孔，或是红外温度传感器外置。开孔会降低电磁灶面板的强度，存在安全隐患，并且影响电磁灶美观清洁，实用性差。而将红外温度传感器外置设置则很难测量电磁灶上物品底部的温度，仅能测量物品侧面的温度。如此，在测温过程中溅射到红外温度传感器上的油污、环境的腐蚀等外界因素会直接影响红外温度传感器的测温精度，存在测温干扰因素多、不美观、不利于清洁等问题，实用性也差。

发明内容

本发明所要解决的第一个技术问题是针对上述现有技术提供一种能够方便检测放置到电磁灶上待测温的目标体的反射率，进而提高目标体温度检测准确率的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置。

本发明所要解决的第二个技术问题是针对上述现有技术提供一种能够方便检测到放置到电磁灶上各种非透红外目标体的红外参数测定方法。

本发明解决上述第一个技术问题所采用的技术方案为：一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：包括

红外探头，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板的下方；