[发明专利]测试高压环境对标准单元库影响的方法在审
| 申请号： | 201711456524.1 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109975627A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 沈立;陆宇;周润宝;沈金龙;程玉华 | 申请（专利权）人： | 上海卓弘微系统科技有限公司;上海芯哲微电子科技股份有限公司;上海北京大学微电子研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201399 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高压器件 标准单元库 测试高压 高压环境 缓冲器 被测单元 测试单元 测试芯片 低压器件 开启时刻 选择器 延迟 测量 芯片 测试 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试高压环境对标准单元影响的方法。测试不同距离高压器件的开关对标准单元的影响，以及高压器件开启时刻对于测试单元的影响。
2.如权利要求1所述的测试高压器件开启时刻影响的测试电路，其特征在于通过逻辑电路的设置选择不同级的缓冲器，从而控制高压器件的开启时刻。
3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于在测试芯片内部设置选择器逻辑，通过选择器来控制测试单元的打开和关闭，以及高压器件的开启时刻，从而达到减少芯片面积的目的。
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