[发明专利]地球物理勘探密度信息提取的方法和装置有效
申请号: | 201711455745.7 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108345035B | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 冯清源 | 申请(专利权)人: | 中国神华能源股份有限公司;神华地质勘查有限责任公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡 |
地址: | 100011 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 地球物理 勘探 密度 信息 提取 方法 装置 | ||
1.一种地球物理勘探密度信息提取的方法,其特征在于,包括:
获取目标区的目标地震剖面,其中,所述目标地震剖面用于表征所述目标区的地层界面密度变化规律;
通过反演模型对所述目标地震剖面进行叠后反演,得到所述目标区的地层密度剖面,其中,所述反演模型基于预设的密度测井数据来建立;
获取所述目标区中角道集的最大叠加区间,包括:获取所述目标区地震波的入射临界角和入射角角度改变量;根据所述入射临界角和所述入射角角度改变量确定所述最大叠加区间;
获取所述目标区地震波的入射临界角,包括:对所述目标区进行层位标定,得到目标层段;根据所述目标层段的横波速度、纵波速度以及第一关系,得到所述地震波的入射临界角,其中,所述第一关系用于表征在剪切模量项系数为零的情况下,入射角与纵横波速度比的关系;
获取所述目标区地震波的入射角角度改变量,包括:根据所述目标层段的横波速度、纵波速度以及第二关系,得到所述入射角角度改变量,其中,所述入射角角度改变量包括第一入射角角度改变量和第二入射角角度改变量,所述第二关系为M((θ0-Δθ1),γ)+M((θ0+Δθ2),γ)=0,其中,M用于表征剪切模量项系数,θ1用于表征所述第一入射角,θ2用于表征所述第二入射角,γ用于表征纵波速度与横波速度之比,θ0为入射临界角,Δθ1为θ1的第一入射角角度改变量,Δθ2为θ2的第二入射角角度改变量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取目标区的目标地震剖面,包括:
获取所述目标区中角道集的最优叠加区间;
通过对所述最优叠加区间的角道集进行叠加,得到所述目标区的目标地震剖面。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述目标区中角道集的最优叠加区间,包括:
获取所述目标区中角道集的最大叠加区间和所述最大叠加区间对应的地震信息;
根据所述目标区中角道集的最大叠加区间和所述最大叠加区间对应的地震信息确定所述最优叠加区间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取目标区的目标地震剖面之前,所述方法还包括:
获取所述目标区的地震波数据,其中,所述地震波数据包括:角道集数据、纵波速度、横波速度和测井解释结果;
对所述地震波数据进行层位标定。
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