[发明专利]一种基于FP的磁场强度传感器及其性能测试方法

权利要求书

1.一种基于FP的磁场强度传感器，其特征在于：包括FP本体(1)和锥形管(2)；所述FP本体(1)通过螺旋弹簧(3)固定在锥形管(2)的内部，且FP本体(1)通过环氧树脂与螺旋弹簧(3)粘接；所述锥形管(2)的尾部贯穿有FP尾纤(4)，且FP尾纤(4)与锥形管(2)的连接出设置有氧树脂塞(5)；所述锥形管(2)的端部通过环氧树脂粘接有磁头(6)，且磁头(6)与FP本体(1)远离FP尾纤(4)的一端连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于FP的磁场强度传感器，其特征在于：所述FP本体(1)的传感机理为：FP传感机理是基于波动光学中的多光束干涉。在光纤FP传感器中输出信号一般利用反射光强度IR表示：

式(1)中φ为任意两束光的相位差，R为两端面的反射率，且

其中，n为腔内介质的折射率，L为腔长，λ为入射光的波长，θ为反射光与反射平面法线的夹角。

当反射率R很小时，(1)式可简化为

式(1)，式(2)和式(3)表明：当外界参量作用于微腔时，可以通过反射光强变化，对反射光干涉条纹波长的漂移进行分析,解调出相干光的相位移，推出外界参量变化，实现传感测量的目的。

3.一种基于FP的磁场强度传感器性能测试方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

步骤1、选取需要测量的第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)；

步骤2、将步骤1中选取的第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)通过固定座(9)与安装板(10)固定连接，第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)中的锥形管(1)的尾部朝上，端部朝下；

步骤3、将第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)的FP尾纤(5)分别接入到测试系统中，并记录所测试的中心波长，从而完成了对第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)性能的检测。

4.根据权利要求书2所述的一种基于FP的磁场强度传感器性能测试方法，其特征在于，步骤3中所述的测试系统包括PC端(11)、ASE光源(12)、光纤环形器(13)、光谱分析仪(14)和连接器(15)；所述ASE光源(12)的光源发射端口通过光纤与光纤环形器(13)的输入端连通，且光纤环形器(13)的输出端通过连接器(15)与第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)连通；所述光纤环形器(13)的输出端通过导线与光谱分析仪(14)的输入端电性连接，且光谱分析仪(14)的输出端通过控制器(16)与PC端(11)电性连接；所述ASE光源(12)的控制端通过导线与PC端(11)电性连接；所述第一FP磁场传感器(7)和第二FP磁场传感器(8)的磁头6均位于环形磁圈内部。