[发明专利]一种高分子材料物理性质测试装置及方法

权利要求书

1.一种高分子材料物理性质测试装置，其特征在于，包括：

设置于平台上的容器，所述容器外表面设有加热装置；

与容器内壁相适配的活塞，所述活塞被设置为密封所述容器，所述活塞上设有排气系统，所述活塞上部设有连接杆，所述连接杆一端与活塞固定连接；

驱动装置，所述驱动装置设置于连接杆另一端，所述驱动装置驱动连接杆实现活塞在容器内的上下运动；

测距装置，其被设置为测量和采集活塞的位移；所述测试装置为激光测距仪，所述激光测距仪与控制杆一端对应，可实时测量和采集两者之间的距离；

设置在活塞上或者容器上的传感器，其被设置为实时采集和监控被测物料的压力和温度。

2.根据权利要求1所述测试装置，其特征在于，所述加热装置的加热方式包括电阻加热、电磁加热、红外加热、水浴加热或油浴加热。

3.根据权利要求1所述测试装置，其特征在于，所述容器材质为金属、陶瓷或玻璃。

4.根据权利要求1所述测试装置，其特征在于，所述排气系统为排气阀。

5.根据权利要求1所述测试装置，其特征在于，所述容器形状为圆柱形、方形或椭圆形。

6.根据权利要求1所述测试装置，其特征在于，所述驱动装置为液压油缸或气缸。

7.根据权利要求1~6任一项所述测试装置，其特征在于，还包括超声波发生器，所述超声波发生器设置在容器上或者活塞上，其被设置为对被测物料施加超声波。

8.一种用于权利要求1~7任一项所述高分子材料物理性质测试装置的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1.首先称取一定质量的物料，加入容器中，加热装置启动，对物料加热，使其熔融成熔体；

S2.启动驱动装置，活塞经驱动向下移动，打开排气系统，待活塞下降到熔体表面与熔体接触时，关闭驱动装置，关闭排气系统，采集物料温度、压力、位移等初始数据；

S3.启动驱动装置，使活塞继续下降，给物料熔体压力，采集物料压力、温度、位移数据；其中，

保持温度不变，变化压力，则可以测得物料在一定温度下，压力、体积的变化曲线；

保持压力不变，温度变化，可得到不同温度下，物料的体积、压力关系曲线；

活塞位移速度变化，可得到不同作用速度下，物料的压力、温度、体积变化曲线。

9.根据权利要求8所述测试方法，其特征在于，设置有超声波发生器时，启动超声波发生器，给物料施加一定强度的超声波，可测得不同超声波强度下，物料的温度、压力、体积变化曲线。