[发明专利]X射线图像捕获设备及控制其的方法有效
申请号: | 201711372116.8 | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN108209948B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 金东昱;朴旻澈 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 图像 捕获 设备 控制 方法 | ||
1.一种控制X射线图像捕获设备的方法,所述方法包括:
使用相机通过拍摄检测器来获取第一图像,所述检测器被配置为接收从X射线发射表面发射的X射线;
通过对第一图像进行图像处理生成第二图像,所述图像处理包括对所述第一图像执行校正,其中,所述校正包括改变所述第一图像中的第一检测器形状,以匹配在垂直于所述X射线发射表面的方向上拍摄的第二检测器形状;
识别在垂直于检测器的与X射线发射表面相反的表面的方向上捕获的参考图像中包括的参考检测器的形状;和
以参考检测器的形状显示所述第二图像,
其中,生成所述第二图像包括基于所述X射线发射表面的位置和所述相机的位置来校正所述第一图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,生成所述第二图像包括基于所述X射线发射表面和所述检测器之间的距离来校正所述第一图像。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,生成所述第二图像包括基于用于确定所述检测器的位置和所述第一检测器形状中的至少一个的预定参考指示物来校正所述第一图像。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括基于所述第二检测器形状是否对应于参考检测器的形状,确定包括所述X射线发射表面的X射线辐射装置是否布置在预定位置处。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括基于确定的结果显示所述预定位置。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括:
从用户接收用于控制所述X射线发射表面的移动的控制信号;
响应于所接收的控制信号移动所述X射线发射表面;
通过对所述第一图像执行第二校正生成第三图像,其中,所述第二校正包括改变所述第一检测器形状,以匹配在垂直于移动的所述X射线发射表面的方向上拍摄的第三检测器形状;和
显示所生成的第三图像。
7.一种X射线图像捕获设备,包括:
相机,其被配置为通过拍摄被配置为接收从X射线发射表面发射的X射线的检测器来获取第一图像;
至少一个处理器,其被配置为通过对第一图像进行图像处理生成第二图像,所述图像处理包括对所述第一图像执行校正,其中,所述校正包括改变所述第一图像中的第一检测器形状,以匹配在垂直于所述X射线发射表面的方向上拍摄的第二检测器形状;和
显示器,其被配置为显示所述第二图像,
其中,所述至少一个处理器还被配置为基于所述X射线发射表面的位置和所述相机的位置来校正所述第一图像。
8.根据权利要求7所述的X射线图像捕获设备,其中,所述至少一个处理器还被配置为基于所述X射线发射表面与所述检测器之间的距离来校正所述第一图像。
9.根据权利要求7所述的X射线图像捕获设备,其中,所述至少一个处理器还被配置为基于用于确定所述检测器的位置和所述第一检测器形状中的至少一个的预定参考指示物来校正所述第一图像。
10.根据权利要求7所述的X射线图像捕获设备,其中,所述至少一个处理器还被配置为,基于所述第二检测器形状是否对应于参考检测器的形状,来确定包括所述X射线发射表面的X射线辐射装置是否布置在预定位置处。
11.根据权利要求10所述的X射线图像捕获设备,其中,所述显示器还被配置为基于所确定的结果显示所述预定位置。
12.根据权利要求7所述的X射线图像捕获设备,还包括输入装置,其被配置为从用户接收用于控制所述X射线发射表面的移动的控制信号,
其中,所述至少一个处理器还被配置为响应于所接收到的控制信号控制X射线发射表面移动,并通过对所述第一图像执行第二校正来生成第三图像,其中,所述第二校正包括改变所述第一检测器形状,以匹配在与移动的X射线发射表面垂直的方向上拍摄的第三检测器形状,以及
其中,所述显示器还被配置为显示所生成的第三图像。
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