[发明专利]一种射频同轴开关射频触点接触组件

说明书

一种射频同轴开关射频触点接触组件，包括两个竖直间隔布置的内导体、水平布置的射频簧片，两个内导体的结构和规格分别对应相同，射频簧片的形状为长方形，内导体由自上而下依次同轴相接的第一圆柱、第二圆柱、第三圆柱、第四圆柱构成，第一圆柱的直径大于第二圆柱的直径，第二圆柱的直径与第四圆柱的直径相同，第三圆柱的直径小于第二圆柱的直径，射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧接触或非接触，其特征在于：每个第一圆柱的上侧设有若干内外同心、间隔布置、与第一圆柱共轴线的环形槽，每个环形槽的纵截面形状为V形。本组件能够有效解决因射频触点表面结霜造成的开关失效。

技术领域

本发明涉及一种射频同轴开关射频触点接触组件。

背景技术

射频同轴开关作为一种在军事、航天、民用等系统工程中十分重要的元器件，广泛使用在温度为-55℃～+85℃，湿度为0～90％的环境中，主要作用是传输和切换射频信号。

射频同轴开关包括射频触点接触组件等零部件，射频触点接触组件包括两个竖直间隔布置的内导体、水平布置的射频簧片，两个内导体的结构和规格分别对应相同，射频簧片的形状为长方形，内导体由自上而下依次同轴相接的第一圆柱、第二圆柱、第三圆柱、第四圆柱构成，第一圆柱的直径大于第二圆柱的直径，第二圆柱的直径与第四圆柱的直径相同，第三圆柱的直径小于第二圆柱的直径，射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧接触或非接触。

当射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧接触时，两个内导体之间借助射频簧片呈电导通状态，射频同轴开关实现闭合；当射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧非接触时，两个内导体之间呈非电导通状态，射频同轴开关实现断开。

在进行低温环境试验时，射频开关常发生大规模的射频触点接触失效，无法满足用户实际使用要求。造成这种失效的主要原因是射频开关在进行低温试验过程中，随着温度的降低，射频触点表面形成凝露，当温度降至零度以下时，凝露结霜，从而导致开关射频触点无法接触，开关失效。而低温下射频触点表面结霜是一个不可避免的物理现象。因此，低温下开关的可靠性成为困扰国内外射频开关厂商的难题。

现阶段国内外射频开关厂商主要采用射频腔体和射频触点反复清洗工艺，尽量降低射频腔体内杂质含量，降低凝露的露点。但由于技术、工艺等限制，现阶段的射频开关无法做到密闭式结构，随着使用时间的推移，射频腔体内杂质含量逐渐增多，射频开关在低温下失效概率大大增加，影响射频开关低温下工作的可靠性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种射频同轴开关射频触点接触组件，其能够有效解决因射频触点表面结霜造成的开关失效，保证了开关的低温可靠性。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种射频同轴开关射频触点接触组件，包括两个竖直间隔布置的内导体、水平布置的射频簧片，两个内导体的结构和规格分别对应相同，射频簧片的形状为长方形，内导体由自上而下依次同轴相接的第一圆柱、第二圆柱、第三圆柱、第四圆柱构成，第一圆柱的直径大于第二圆柱的直径，第二圆柱的直径与第四圆柱的直径相同，第三圆柱的直径小于第二圆柱的直径，射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧接触或非接触，每个第一圆柱的上侧设有若干内外同心、间隔布置、与第一圆柱共轴线的环形槽，每个环形槽的纵截面形状为V形。

为简单说明问题起见，以下对本发明所述的一种射频同轴开关射频触点接触组件，均简称为本组件。

本组件的工作状态为：当射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧接触时，两个内导体之间借助射频簧片呈电导通状态，射频同轴开关实现闭合；当射频簧片的长度方向两端与两个第一圆柱的上侧非接触时，两个内导体之间呈非电导通状态，射频同轴开关实现断开。