[发明专利]医疗器械整机寿命分布预测方法和系统

说明书

本发明涉及一种医疗器械整机寿命分布预测方法和系统，对待测医疗器械整机样品在不同测试应力作用下的原始采样寿命数据进行数据变换，得到若干个原始数据序列；分别根据各个原始数据序列生成若干个第一灰序列；根据所述第一灰序列计算所述待测医疗器械整机样品失效的首达时间，根据所述首达时间对预设的加速模型进行求解，得到所述待测医疗器械整机样品在设定应力下的寿命分布。上述加速退化试验数据处理方法，能够有效提高试验可靠性。

技术领域

本发明涉及加速退化试验技术领域，特别是涉及一种医疗器械整机寿命分布预测方法和系统。

背景技术

加速退化试验是用加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速退化试验方法为高可靠长寿命产品的可靠性评定提供了基础。加速退化试验的类型很多，常用的是如下三类：

(1)恒定应力加速退化试验，简称恒加试验，即先选一组加速应力水平，然后将一定数量的样品分为若干组，每组在一个应力水平下进行寿命试验，直到各组均有一定数量的样品发生失效为止。

(2)步进应力加速退化试验，简称步加试验，即是先选定一组均高于正常应力水平的加速应力水平，试验开始时把一定数量的样品放置于初始水平下进行寿命试验，经过一段时间后提高应力水平继续进行寿命试验，经过一段时间后将应力水平提高至更高的应力水平，如此继续下去，直至有一定数量的样品发生失效为止。

(3)序进应力加速退化试验，简称序加试验。它与步加试验基本相同，不同之处在于它施加的加速应力水平将随时间连续上升。

然而，上述三种加速退化试验均存在试验可靠性低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对试验可靠性低的问题，提供一种医疗器械整机寿命分布预测方法和系统。

一种医疗器械整机寿命分布预测方法，包括以下步骤：

对待测医疗器械整机样品在不同测试应力作用下的原始采样寿命数据进行数据变换，得到若干个原始数据序列；

分别根据各个原始数据序列生成若干个第一灰序列；

根据所述第一灰序列计算所述待测医疗器械整机样品失效的首达时间，根据所述首达时间对预设的加速模型进行求解，得到所述待测医疗器械整机样品在正常应力下的寿命分布。

一种医疗器械整机寿命分布预测系统，包括：

数据变换模块，用于对待测医疗器械整机样品在不同测试应力作用下的原始采样寿命数据进行数据变换，得到若干个原始数据序列；

序列生成模块，用于分别根据各个原始数据序列生成若干个第一灰序列；

预测模块，用于根据所述第一灰序列计算所述待测医疗器械整机样品失效的首达时间，根据所述首达时间对预设的加速模型进行求解，得到所述待测医疗器械整机样品在设定应力下的寿命分布

上述医疗器械整机寿命分布预测方法和系统，通过数据变换得到原始数据序列，然后生成第一灰序列，并计算待测医疗器械整机样品失效的首达时间，最后求解加速模型得到待测医疗器械整机样品在正常应力下的寿命分布，能够有效提高试验可靠性。

附图说明

图1为一个实施例的医疗器械整机寿命分布预测方法流程图；

图2为一个实施例的医疗器械整机寿命分布预测系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案进行说明。

如图1所示，本发明提供一种医疗器械整机寿命分布预测方法，可包括以下步骤：

S1，对待测医疗器械整机样品在不同测试应力作用下的原始采样寿命数据进行数据变换，得到若干个原始数据序列；