[发明专利]光模块测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及调试领域，尤其涉及光模块的调试领域，具体是指一种光模块测试系统。

背景技术

在常规的光模块测试中，需要测试光模块的眼图、接收灵敏度、光谱、DDM上报等各种参数。但由于ONU模块采用收发一体的设计方式，往往测试时都是先测发送、后测接收、然后扫描光谱等一步步独立的测试。这样的测试方法不仅每次都要插拔光纤，浪费时间，也带进了很多的插拔误差，使测试数据不够一致。而且在高低温测试时，如果打开温箱然后进行插拔光纤的操作，一是不安全，因为高温85度容易烫伤，低温-45度容易冻伤。二是在插拔的时候带进去插拔损耗，使测试数据不准确。三还会使温箱里面的温度急剧降低或者升高，要回到测试温度得花费大量的时间。

请参阅图1所示，其为现有技术的一光模块测试系统的架构示意图。其在温箱里面一次性放N个模块，然后其中一个模块插到测试板上电测试，引出的光纤先和光功率计连接，测试光功率，然后拔下和光谱仪连接，测试光谱，然后再拔下和眼图仪链接测试眼图。以此类推，每测试一项都得插拔一次光纤，而且插拔光纤后得用端面检测仪检测端面，如果端面脏了还得清洁。待一个模块测完后，需要打开温箱，然后快速更换一个模块再接着测试。待所有模块测完后再改变温箱温度，重复上述步骤。

请参阅图2所示，其为现有技术的另一光模块测试系统的架构示意图。其在温箱里面一次放一个模块，引出的光纤先和光功率计连接，测试光功率，然后拔下和光谱仪连接，测试光谱，然后再拔下和眼图仪链接测试眼图。以此类推，每测试一项都得插拔一次光纤，而且插拔光纤后得用端面检测仪检测端面，如果端面脏了还得清洁。测完常温后对温箱进行升温测试高温，测完高温后对温箱进行降温，测试低温。

而现有技术中的上述方案，存在以下缺点：

1、成本高，需要双通道误码仪；

2、测试时间长，每测一个项目都得人工插拔光纤切换设备；

3、重复的插拔光纤导致精度下降，对光纤的损伤也大；

4、在高低温下更换温箱里面的模块容易造成烫伤或者冻伤，不安全；

5、高低温下打开温箱后会使温箱内部温度改变，需要很久才能恢复稳定；

6、低温下打开温箱会进水汽，使板子容易结霜，造成板子短路；

7、无法测试模块接收电眼图；

8、每测试一次都得插拔一次光纤，浪费时间；

9、一次只能测试一个模块，效率低；

10、每测一次模块都得升降温一次，浪费电。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种能够降低成本的光模块测试系统。

为了实现上述目的，本发明的光模块测试系统具有如下构成：

该光模块测试系统，其主要特点是，所述的系统包括至少两个待测光模块、第一分路器、第二分路器、单通道误码仪、OLT模块和至少两个光模块测试仪器；

所述的至少两个待测光模块与所述的第一分路器相连接，且所述的至少两个待测光模块择一放置于一待测板上；

所述的第一分路器与所述的第二分路器相连接，且所述的第一分路器与所述的至少两个待测光模块相连接；

所述的第二分路器与所述的至少两个光模块测试仪器相连接；

所述的单通道误码仪分别与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器、所述的待测板、所述的OLT模块相连接；

所述的OLT模块与所述的至少两个光模块测试仪器相连接。

该光模块测试系统的至少两个待测光模块为八个待测光模块，所述的八个待测光模块分别为第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块，所述的第一分路器为一分八光分路器，所述的第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块均与所述的一分八光分路器相连接，所述的第八待测光模块放置于所述的待测板上。