[发明专利]电流探针结构

说明书

本发明公开了一种电流探针结构，包含一导电套筒、一第一电连接端口及一探针组件。导电套筒用以固定于一基板。第一电连接端口电性连接于导电套筒。探针组件包含一第一针轴及一第一探针。第一针轴可滑移地穿设导电套筒，且第一针轴通过导电套筒电性连接于第一电连接端口。第一探针设置并电性连接第一针轴。

技术领域

本发明关于一电流探针结构，特别是一种具有导电套筒的电流探针结构。

背景技术

目前业界有用于测量电阻值或电压值等电性特性的仪器，特别是利用大电流(例如从数十安培到数百安培)的量测仪器。在销售产品前，业者会利用量测仪器的多个探针组来进行多点的电性测试以确认产品的合格率和可靠度。一般而言，量测仪器的探针组固定于一板件上，且通常具有一驱动端及一感测端，驱动端与感测端分别与电线连接。当探针组接触一待测物时，大电流流经驱动端至待测物，再经由感测端回传经过此待测物的电流，以感测此待测物的电性特性。

由于，连接驱动端的电线为大电流输出之处，因此电线较为粗大，使得具有多个探针组的量测装置于配线上实为拥挤，进而造成探针组在抵触待测物而滑移时，位于量测装置内的电线会随之移动，而造成多条电线之间相互摩擦，或是造成多条电线与量测装置的结构摩擦而破损，使得电流形成短路的状态而使量测装置失效。此外，量测装置内部空间因配置有多条粗大的电线，使得大电流在流经电线时所产生的热不易消散。

发明内容

本发明在于提供一种电流探针结构，藉以解决现有技术中量测装置内电线拥挤所造成的电线容易摩擦破损及散热不易的问题。

本发明一实施例所公开的一种电流探针结构包含一导电套筒、一第一电连接端口及一探针组件。导电套筒用以固定于一基板。第一电连接端口电性连接于导电套筒。探针组件包含一第一针轴及一第一探针。第一针轴可滑移地穿设导电套筒，且第一针轴通过导电套筒电性连接于第一电连接端口。第一探针设置并电性连接第一针轴。

根据上述实施例所公开的电流探针结构，藉由固定于基板的导电筒体及固定于导电筒体的第一电连接端口取代传统探针组中会随着探针组移动的大电流电线，使得电流探针结构的滑移不会带动导电套筒及第一电连接端口移动，进而降低了具有电流探针结构的测量装置内部电线的摩擦机率。此外，由于原本用来传输大电流的电线已被取代，使得具有电流探针结构的量测装置的内部空间相对的宽敞，以令具有电流探针结构的量测装置的散热能力提升。

以上的关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为本发明第一实施例所公开的多个电流探针结构装设于基板的立体图。

图2为图1的其中一电流探针结构的立体图。

图3为图2的分解图。

图4为图3的部分的放大分解图。

图5为图2的剖面图。

图6为本发明第二实施例所公开的电流探针结构中的多个探针组件穿设导电筒体的立体图。

图7为本发明第三实施例所公开的电流探针结构中的多个探针组件穿设导电筒体的立体图。

其中，附图标记：

10 电流探针结构

11 基板

100、700、900 导电套筒

110 柱体部

111 滑槽

111a 组配槽

111b 内壁面