[发明专利]一种改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法

说明书

本发明公开一种改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法，包括：把机载测振仪的待测数字元器件置换为边界扫描芯片；在待测的模拟芯片周围植入边界扫描芯片，共同构建测试单元；通过向边界扫描单元输入测试信号，将输出的信号与理论值相对比，判断被测电路的好坏。本发明的方法解决了机载测振仪机内测试覆盖率低的问题，能够保证设备稳定工作，而且实施方便，适应性广。

技术领域

本发明属于机载设备电路设计领域，涉及一种改善机载测振仪机内测试 (BIT)覆盖率的方法。

背景技术

以前的机载测振仪大多采用模拟电路和分立元器件，而现在的机载测振仪越来越多地采用集成电路、表面安装器件(SMD)、多芯片组件(MCM)、多层印制板(MPCB)，器件的结构和复杂性大为增加。采用常规的机内测试方法测试现在的机载测振仪，显现出测试技术落后和测试方法简单，导致测振仪BIT (机内测试)诊断能力差，虚警率高的现象，部分元器件不能正常检测，已经不能用传统的机内测试方法提高机载测振仪的机内测试覆盖率。比如，发动机测振仪一般由安装在机身电子舱内的信号转换及处理电路、双绞屏蔽传输电缆和安装在发动机上的传感器组成，采用常规的机内测试方法测试发动机测振仪，存在BIT诊断能力差，虚警率高，造成飞行员误判故障的问题，需要提出一种改善机载测振仪机内测试测试覆盖率的方法。

发明内容

鉴于现有技术的上述情况，本发明的目的是提供一种改善机载测振仪机内测试测试覆盖率的方法，以使机载测振仪能稳定工作，而且实施方便、成本低。

本发明的上述目的是利用以下的技术方案实现的：

一种改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法，包括以下步骤：

(1)把机载测振仪的待测数字元器件置换为边界扫描芯片；

(2)在待测的模拟芯片周围植入边界扫描芯片，共同构建测试单元；

(3)设定机载测振仪机内测试的输入顺序和输入信号，向边界扫描芯片输入测试信号，监测相应的输出信号，如输出信号值与理论值相符，则被测电路工作正常；反之，被测电路工作不正常，根据输出的数值判断出电路故障原因，确定故障器件的位置。

进一步地，机载测振仪机内测试的输入顺序是采用MCSA(最大连续子序列)和/或等权值方法生成的。

进一步地，根据输出的数值判断出电路故障原因包括将测试数据经过方差、相关与回归分析后，计算故障特征值，采用SVM(支持向量机)方法进行器件或模块的故障诊断。

进一步地，所述待测数字元器件包括D/A转换器、I/O芯片、多路选择器和/或中央处理器(CPU)。

进一步地，所述待测模拟芯片包括电阻、电容和/或模拟开关。

本发明的改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法通过把机载测振仪的数字元器件置换为边界扫描芯片，在待测的模拟芯片周围植入边界扫描芯片，共同构建测试单元，可提高机内测试的准确度和检测速度，降低虚警率，改善机内测试覆盖率，保证设备能稳定工作，而且实施方便，适应性广，成本低。

具体实施方式

为了更清楚地理解本发明的目的、技术方案及优点，下面结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。

按照本发明的改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法包括如下步骤：

(1)把机载测振仪的待测数字元器件置换为边界扫描芯片；

(2)在待测的模拟芯片周围植入边界扫描芯片，共同构建测试单元；

(3)设定机载测振仪机内测试的输入顺序和输入信号，向边界扫描芯片输入测试信号，监测相应的输出信号，如输出信号值与理论值相符，则被测电路工作正常；反之，被测电路工作不正常，根据输出的数值判断出电路故障原因，确定故障器件的位置。