[发明专利]中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法有效
申请号: | 201711329867.1 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108169095B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 王艳忠;昝念民;操应长;付永恒;李桥;林敉若;李文强;谢强旺 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(华东) |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 37256 青岛清泰联信知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张媛媛 |
地址: | 266580 山东省青岛市经济*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 砂岩 中深层 溶解 次生孔隙 中长石 沉积物 地表 参考样品 面孔率 成岩 埋藏 长石溶解 沉积物样品 长石颗粒 胶结作用 形态恢复 压实作用 铸体薄片 磨制 恢复 | ||
1.一种中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)通过野外踏勘,确定与中深层砂岩样品在岩石组构特征和沉积条件上相似的地表现代沉积物样品作为地表现代沉积物参考样品;
(2)分别磨制中深层砂岩样品和地表现代沉积物参考样品的铸体薄片,其中,磨制地表现代沉积物参考样品的铸体薄片时,需针对地表现代沉积物参考样品中的不同粒径范围的样品分别磨制对应的铸体薄片;
(3)分别获取每个铸体薄片在透射光显微镜下对应的图像,并对图像中的每个长石颗粒的形态进行恢复,得到其溶解前形态,测量获得每个长石颗粒对应的溶解前面积和粒径;针对每个长石颗粒,圈绘长石颗粒边缘与其溶解前形态的轮廓之间的区域作为粒缘溶解孔隙,圈绘长石颗粒内部溶解区域作为粒内溶解孔隙,测量获得每个长石颗粒对应的粒缘溶解孔隙面积和粒内溶解孔隙面积;
(4)针对地表现代沉积物参考样品,求取地表现代沉积物参考样品中不同粒径范围长石颗粒的溶解孔隙总面积占其溶解前总面积的百分含量;针对中深层砂岩样品,依据与步骤(2)中地表现代沉积物参考样品相同的粒径范围划分标准将长石颗粒划分为不同粒径范围,求取中深层砂岩样品中不同粒径范围长石颗粒的溶解孔隙总面积占其溶解前总面积的百分含量;
(5)将求得的中深层砂岩样品中不同粒径范围长石颗粒的溶解孔隙总面积占其溶解前总面积的百分含量与地表现代沉积物参考样品中对应粒径范围长石颗粒的溶解孔隙总面积占其溶解前总面积的百分含量作差,获得中深层砂岩中不同粒径范围长石颗粒在埋藏成岩过程中产生的溶解孔隙总面积占其溶解前总面积的百分含量,进而求得中深层砂岩中不同粒径范围长石颗粒在埋藏成岩过程中产生的溶解孔隙总面积,以及中深层砂岩埋藏成岩中长石颗粒的溶解孔隙面孔率。
2.根据权利要求1所述的中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法,其特征在于,步骤(1)中判定地表现代沉积物样品与中深层砂岩样品在岩石组构特征和沉积条件上相似的标准为:当地表现代沉积物样品与所述中深层砂岩样品在岩石成分、长石颗粒的粒径范围、长石颗粒的磨圆特征和物源区母岩类型上均相同,且地表现代沉积物样品的沉积物搬运距离小于或等于所述中深层砂岩样品的最大延伸距离时,判定为相似。
3.根据权利要求1所述的中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法,其特征在于:步骤(2)中,磨制地表现代沉积物参考样品的铸体薄片时,将地表现代沉积物参考样品划分为0.1-0.25mm、0.25-0.5mm、0.5-1.0mm和1.0-2.0mm四个粒径范围。
4.根据权利要求1所述的中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法,其特征在于,步骤(3)中,恢复长石颗粒形态的具体步骤为:针对双晶或解理发育的长石颗粒,沿其双晶或解理的延伸方向将长石颗粒恢复成长条形,作为其溶解前形态;针对无双晶、无解理且具有未溶解的平直边缘的长石颗粒,沿其平直边缘的延伸方向将长石颗粒恢复成长条形,作为其溶解前形态;针对无双晶、无解理且无平直边缘的长石颗粒,沿其长轴方向将长石颗粒恢复成长条形,作为其溶解前形态。
5.根据权利要求4所述的中深层砂岩埋藏成岩中长石溶解次生孔隙面孔率测定方法,其特征在于:步骤(3)中,将长石颗粒恢复成长条形后,当图像中长石颗粒的长条形轮廓间呈线接触或缝合接触状态时,需将其恢复成点接触状态后再进行圈绘;当图像中长石颗粒的长条形轮廓内填充有胶结物时,需将胶结物剔除后再进行圈绘。
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