[发明专利]一种部件间高精度自动对接的位姿检测方法有效

专利信息
申请号: 201711294266.1 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN108036791B 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 费允锋;宋银灏;常猛;刘渊;李国文;高鑫 申请(专利权)人: 中国人民解放军火箭军工程设计研究院
主分类号: G01C21/20 分类号: G01C21/20
代理公司: 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 代理人: 张定花
地址: 100011 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 部件 高精度 自动 对接 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种部件间高精度自动对接的位姿检测方法,其特征在于,包括:

获取第一对接部件(1)表面上的第一待测标志物(3)的坐标;

获取第二对接部件(2)表面上的第二待测标志物(4)的坐标;

获取第一对接部件(1)的螺栓与螺孔的位姿对应的第一位姿引出部件(5)的第一参考标志物的坐标;

获取第二对接部件(2)的螺栓与螺孔的位姿对应的第二位姿引出部件(6)的第二参考标志物的坐标;

确定第一参考标志物相对于第一待测标志物(3)的位姿;

确定第二参考标志物相对于第二待测标志物(4)的位姿;

确定第一对接部件(1)和第二对接部件(2)的位姿差;

所述获取第一对接部件(1)表面上的第一待测标志物(3)的坐标的步骤之前还包括:

在第一对接部件(1)表面上设置第一待测标志物(3);

在第一位姿引出部件(5)的正对相机的一侧设置第一参考标志物,所述第一参考标志物用于引出第一对接部件(1)上的螺栓与螺孔的位姿;

在第二对接部件(2)表面上设置第二待测标志物(4),其中第二待测标志物(4)与第一待测标志物(3)的ID不同;

在第二位姿引出部件(6)的正对相机的一侧设置第二参考标志物,所述第二参考标志物用于引出第二对接部件(2)上的螺栓与螺孔的位姿;

将第一位姿引出部件(5)对准第一对接部件(1)插入;

将第二位姿引出部件(6)对准第二对接部件(2)插入;

将第一对接部件(1)和第二对接部件(2)进行对接;;

所述位姿检测方法还包括:

通过两个CCD相机建立双目视觉测量系统;

根据所建立的双目视觉测量系统确定第一待测标志物(3)和第二待测标志物(4)的坐标系;

根据所确定的第一待测标志物(3)和第二待测标志物(4)的坐标系确定第一对接部件(1)和第二对接部件(2)的位姿偏差;

所述根据所确定的第一待测标志物(3)和第二待测标志物(4)的坐标系确定第一对接部件(1)和第二对接部件(2)的位姿偏差的步骤包括:

建立第一待测标志物(3)的坐标系;

确定第一待测标志物(3)的坐标系在相机坐标系下的第一待测位姿;

确定第一参考标志物的坐标系在相机坐标系下的第一参考位姿;

确定第一参考标志物的坐标系在第一待测标志物(3)的坐标系下的位姿;

建立第二待测标志物(4)的坐标系;

确定第二待测标志物(4)的坐标系在相机坐标系下的第二待测位姿;

确定第二参考标志物的坐标系在相机坐标系下的第二参考位姿;

确定第二参考标志物的坐标系在第二待测标志物(4)的坐标系下的位姿;

确定第一对接部件(1)和第二对接部件(2)之间的位姿差;

所述获取第一对接部件(1)的螺栓与螺孔的位姿对应的第一位姿引出部件(5)的第一参考标志物的坐标的步骤包括:

在第一对接部件(1)的螺栓与螺孔位置设置与第一位姿引出部件(5)的坐标相对应的参照物;

确定第一参考标志物相对于参照物的坐标;

确定螺栓与螺孔相对于参照物的坐标;

确定第一参考标志物相对于螺栓与螺孔的相对位姿。

2.根据权利要求1所述的位姿检测方法,其特征在于,所述建立第一待测标志物(3)的坐标系的步骤包括:

通过双目视觉测量系统确定第一待测标志物(3)的三个角点a、b、c在相机坐标系下的三维空间坐标;

以第一待测标志物(3)的角点连线作ab为X轴方向,以第一待测标志物(3)的角点连线ac作为Y轴方向,由右手定则确定坐标系Z轴方向;

根据确定的X轴方向和Z轴方向反推Y轴方向,建立坐标系。

3.根据权利要求1所述的位姿检测方法,其特征在于,所述第一待测标志物(3)为aruco标志码。

4.根据权利要求1所述的位姿检测方法,其特征在于,所述建立第一待测标志物(3)的坐标系的步骤包括:

对第一对接部件(1)上的不同标记点进行标号;

对该第一对接部件(1)的位姿进行实时测量;

获取不同时刻的各个标记点的状态变化;

对各个标记点进行匹配,确定各个标记点在不同时刻所处位置。

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