[发明专利]调整准直器位置的方法和装置有效
申请号: | 201711292606.7 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN109893153B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 李涛涛 | 申请(专利权)人: | 上海西门子医疗器械有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201318 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调整 准直器 位置 方法 装置 | ||
1.一种X射线扫描设备中调整准直器的位置的方法,其中,所述X射线扫描设备包括X线球管,探测器单元阵列和所述准直器,其中,所述方法包括:
获取所述探测器单元阵列的多个边缘通道集的信号强度;
确定所述多个边缘通道集的信号强度是否满足预定条件;
如果不满足所述预定条件,则调整所述准直器的位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个边缘通道集包括第一组通道集和第二组通道集。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述确定所述多个边缘通道集的信号强度是否满足预定条件的步骤包括:
根据所述多个边缘通道集的信号强度获取所述第一组通道集的第一归一化信号和所述第二组通道集的第二归一化信号;
确定所述第一归一化信号和所述第二归一化信号是否满足预定条件其中,Ka是所述第一归一化信号,Kb是所述第二归一化信号,T为大于0小于1且接近0的小数。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述第一组通道集包括第一边缘通道集和第二边缘通道集,所述第二组通道集包括第三边缘通道集和第四边缘通道集,其中所述获取所述第一组通道集的第一归一化信号和所述第二组通道集的第二归一化信号的步骤包括:
获取X射线直接投射到探测器单元阵列时的多个边缘通道集的信号强度的参考值,包括第一边缘通道集的信号强度的参考值、第二边缘通道集的信号强度的参考值、第三边缘通道集的信号强度的参考值和第四边缘通道集的信号强度的参考值;
根据下式确定所述第一归一化信号:
其中,Ka是所述第一归一化信号,Sa是所述第一边缘通道集的信号强度,Sb是所述第二边缘通道集的信号强度,Sa_ref是所述第一边缘通道集的信号强度的参考值,Sb_ref是所述第二边缘通道集的信号强度的参考值;
根据下式确定所述第二归一化信号:
其中,Kb是所述第二归一化信号,Sc是所述第三边缘通道集的信号强度,Sd是所述第四边缘通道集的信号强度,Sc_ref是所述第三边缘通道集的信号强度的参考值,Sd_ref是所述第四边缘通道集的信号强度的参考值。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述获取所述探测器单元阵列的多个边缘通道集的信号强度的步骤包括:
将每个所述边缘通道集内所有通道的信号强度相加获得每个所述边缘通道集的信号强度。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述获取所述探测器单元阵列的边缘通道集的信号强度的步骤还包括:
对多个采样时间内的同一个所述边缘通道集的信号强度进行累加。
7.一种X射线扫描设备中调整准直器的位置的装置,其中,所述X射线扫描设备包括X线球管,探测器单元阵列和所述准直器,其中,所述装置包括:
信号强度获取单元,配置为获取所述探测器单元阵列的多个边缘通道集的信号强度;
预定条件判断单元,配置为确定所述多个边缘通道集的信号强度是否满足预定条件;
调整单元,配置为如果不满足所述预定条件,则调整所述准直器的位置。
8.根据权利要求7所述的装置,其中,所述多个边缘通道集包括第一组通道集和第二组通道集。
9.根据权利要求8所述的装置,其中,所述预定条件判断单元包括:
归一化模块,配置为根据所述多个边缘通道集的信号强度获取所述第一组通道集的第一归一化信号和所述第二组通道集的第二归一化信号;
信号判断模块,配置为确定所述第一归一化信号和所述第二归一化信号是否满足预定条件其中,Ka是所述第一归一化信号,Kb是所述第二归一化信号,T为大于0小于1且接近0的小数。
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