[发明专利]一种数字射线几何放大倍数的实时测量方法

说明书

技术领域

本发明属于无损检测技术领域，具体涉及到数字射线几何放大倍数的实时测量方法。

背景技术

无损检测是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下，对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。

射线检测是目前应用最广泛的无损检测技术之一。传统的射线检测是采用胶片技术。随着电子技术的发展，传统射线在向数字射线快速发展，在数字射线领域中空间分辨率是一个极其重要的指标。在不同的放大倍数下的空间分辨率是不同的，因此就存在最佳放大倍数。放大倍数不仅影响了空间分辨率，同时也对工件的影像进行了放大，如果不知道放大倍数将影响到工件中缺陷的测量，增加测量误差，容易造成工件的错漏检。目前行业采用的测量放大倍数的方案基本上是利用卷尺手工测量射线源、工件、数字探测器之间的距离，该方法存在测量误差，影响工件的检测质量，容易造成错漏检，同时该方法一般是在工件处于非检测状态下测量(因为在检测时，射线有辐射，工作人员不允许待在射线辐射区域)，因此并非实时测量。在满足空间分辨率的前提下，有时为了考虑工作效率，或者为了从多个不同的角度观察检测图像，就需要调整射线源、工件、数字探测器之间的相对位置，而此时的放大倍数已经发生了变化，按照传统的测量方法无法实时跟踪每个状态下的几何放大倍数，而该方法可以实时测量并计算出工件在每个状态下的几何放大倍数。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种数字射线几何放大倍数的实时测量方法。

本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明提供一种数字射线几何放大倍数的实时测量方法，其包括如下步骤：

在射线源上固设一个激光测距仪，确保激光光束与主射线束平行，测量出激光光源与射线源的相对坐标；

利用所述激光测距仪测量并计算出射线源至工件的距离F以及激光测距仪测量并计算出数字探测器的距离f；

利用几何放大倍数计算公式M＝f/F，计算出数字射线的几何放大倍数M。

其中，F＝F’+Δy，F’为激光测距仪至工件表面的垂直距离。

作为优选方案，所述f＝1000mm，Δx＝20mm、Δy＝20mm，F’＝530mm，M＝1000/(530+20)≈1.82。

与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：

可以实时测量并计算出工件在每个状态下的几何放大倍数。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本发明的方法实现原理图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。

本发明提供一种数字射线几何放大倍数的实时测量方法，其包括如下步骤：

在射线源上固设一个激光测距仪，确保激光光束与主射线束平行，测量出激光光源与射线源的相对坐标；

利用所述激光测距仪测量出射线源至工件的距离F以及射线源至数字探测器的距离f；

(修改后)利用所述激光测距仪测量并计算出射线源至工件的距离F以及激光测距仪测量并计算出数字探测器的距离f；

利用几何放大倍数计算公式M＝f/F，计算出数字射线的几何放大倍数M。

具体举例为：

如图1所示，射线源至数字探测器的距离为f＝1000mm，射线源与激光光源的相对坐标为Δx＝20mm、Δy＝20mm，在没有工件时，通过激光测距仪测量出数字探测器至激光光源的距离为980mm，将一块长50mm、宽20mm、厚4mm的工件放置在工作台(4)的中间，此时激光测距仪测出工件表面至激光光源的距离为F’＝530mm，根据F＝F’+Δy可计算出，F＝530+20＝550mm，因此可以计算出几何放大倍数：

倍。

与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：

可以实时测量并计算出工件在每个状态下的几何放大倍数。

以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本发明的实质内容。