[发明专利]一种大直径薄壁箱体的形变测量装置

权利要求书

1.一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：包括薄壁贮箱(1)、工艺环(2)、支撑旋转装置(3)、机床(4)、刀架基座(5)、刀架(6)、刀具(7)、支撑架(8)、激光传感器组件(9)和立柱(10)；其中，薄壁贮箱(1)为圆筒状结构；薄壁贮箱(1)水平放置；工艺环(2)包覆在薄壁贮箱(1)的轴向两端的外壁；支撑旋转装置(3)分别设置在两端工艺环(2)的底部；机床(4)竖直设置在薄壁贮箱(1)的一侧；刀架基座(5)水平固定安装在机床(4)的中部；刀架(6)同轴固定安装在刀架基座(5)的一端，且指向薄壁贮箱(1)；刀具(7)固定安装在刀架(6)的轴向一端，且刀具(7)与薄壁贮箱(1)的外壁接触；立柱(10)固定安装在刀架基座(5)的上表面；支撑架(8)固定安装在立柱(10)的上表面；激光传感器组件(9)固定安装在支撑架(8)的上表面，且指向薄壁贮箱(1)外壁。

2.根据权利要求1所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述的支撑旋转装置(3)为滚轮结构；通过旋转支撑旋转装置(3)实现对薄壁贮箱(1)的滚转运动。

3.根据权利要求2所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述刀架基座(5)在机床(4)的带动下，实现以薄壁贮箱(1)为圆心，轴向旋转18-22°。

4.根据权利要求3所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述支撑架(8)与立柱(10)活动连接；支撑架(8)以与立柱(10)连接点为圆心，沿周向旋转8-10°。

5.根据权利要求4所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述刀架基座(5)在机床(4)的带动下，实现沿薄壁贮箱(1)轴向的平移。

6.根据权利要求5所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述激光传感器组件(9)包括激光传感器(9-1)、伸缩块(9-2)和滑动支撑座(9-3)；其中，滑动支撑座(9-3)套装在支撑架(8)的外壁；伸缩块(9-2)固定安装在滑动支撑座(9-3)的上表面；激光传感器(9-1)沿轴向固定安装在伸缩块(9-2)的轴向一端；通过滑动支撑座(9-3)沿支撑架(8)轴向的滑动，带动激光传感器(9-1)平移，实现对带动激光传感器(9-1)和薄壁贮箱(1)的外壁间距的调整。

7.根据权利要求6所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述激光传感器(9-1)的测量范围为50～300mm；光点直径为0.3mm；分辨率为50um；线性度为±0.1％；采样频率为50kHz。

8.根据权利要求7所述的一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：所述激光传感器(9-1)的头端距薄壁贮箱(1)的外壁145-155mm。