[发明专利]一种可调校准折光补偿柱上荧光检测池

权利要求书

1.一种可调校准折光补偿柱上荧光检测池，包括池座（1）、池座压盖（2）、池座底座（3）、池座平台（4）、三维位移平台（5）和连接板（6），其特征在于：

所述池座（1）的底面中心设有圆形凹槽，于凹槽内部底面处沿轴心设有上、下两端开口的贯穿池座的圆柱形空腔；毛细管（7）经池座侧壁垂直穿过空腔中心线，于位于空腔内的毛细管中部设有长度3~10 mm的透明光窗（8），毛细管两端贯穿池座并延伸出池座（1）之外；收集光纤（9）贯穿池座侧壁伸入至空腔处，收集光纤（9）与毛细管（7）夹角45°且二者的中心线共面；收集光纤（9）的一端与透明光窗（8）接触；毛细管（7）、收集光纤（9）的插口处均设有密封固定的套设于毛细管外部的毛细管卡套结构（17）和套设于光纤外部的收集光纤卡套结构（16）；池座（1）的侧面设有与空腔相连通的侧面观察孔（11），其中心线与毛细管（7）的中心线共面，处于空腔内的开口端面向透明光窗（8）处，侧面观察孔（11）配有密封堵头（12）；

所述池座平台（4）为池座（1）提供支撑，置于其下方，二者通过机械紧固；

所述池座底座（3）为圆柱形，其直径小于池座（1）底面凹槽直径；池座底座（3）沿轴心设有光纤通道，激发光纤（13）的上端从通道伸出；于通道下端插口处设有密封固定的套设于光纤外部的激发光纤卡套结构（10）；池座底座（3）自下伸入池座（1）底面凹槽内，与底面凹槽的内表面贴合，并通过连接板（6）与三维位移平台（5）机械桥连，池座底座（3）与池座（1）底面凹槽同轴；

所述池座（1）和池座底座（3）的顶面沿径向均设有环形凹槽，槽内分别设有第一密封圈（14）和第二密封圈（15）；池座压盖（2）置于池座（1）上方，所述池座压盖（2）、和池座（1）间通过螺帽或螺杆压紧密封圈；所述池座（1）和池座底座（3）间通过调节三维位移平台（5）与池座平台（4）的间距压紧；通过压紧第二密封圈（15）形成密闭的池内空腔，空腔内填满折光补偿液体；调节校准时，从侧面观察孔（11）观察：调节激发光纤（13）与透明光窗（8）的距离；毛细管（7）和收集光纤（9）在Z轴方向上的对准情况；垂直于水平面的Z轴方向上的对准和微调过程不使用或使用手持式小型显微镜进行观察；在池座（1）的顶面用显微镜通过圆柱形空腔作为顶面观察孔（18）观察激发光纤（13）和毛细管（7）的对准效果，在同一水平面上的X轴和Y轴方向调节三维位移平台（5），使激发光纤（13）对准毛细管（7）的轴线中心。

2.根据权利要求1所述的检测池，其特征在于：所述三维位移平台（5）为设有X、Y和Z方向的可三维位移的平台，调节同一水平面上的X轴和Y轴方向进行激发光纤（13）的轴心与透明光窗（8）的轴心的对准，调节垂直于水平面的Z轴方向进行池座（1）和池座底座（3）的压紧、密封。

3.根据权利要求1所述的检测池，其特征在于：所述池座（1）、池座压盖（2）、池座底座（3）、池座平台（4）和连接板（6）由发黑处理的铝或其他金属材料制作。

4.根据权利要求1所述的检测池，其特征在于：所述的激发光纤卡套结构（10）、收集光纤卡套结构（16）、毛细管卡套结构（17）内，于毛细管（7）、激发光纤（13）和收集光纤（9）的外部都分别套有内径分别与毛细管（7）、收集光纤（9）和激发光纤（13）匹配、外径与卡套内径匹配的套管，套管材料为FEP、PTFE或PEEK。

5.根据权利要求1或2所述的检测池，其特征在于：所述池座（1）的底面凹槽侧壁面与池座底座（3）之间留有缝隙，缝隙量为0.5~1.5 mm，其尺度与三维位移平台调节器（5）的同一水平面上的X轴和Y轴方向的调节量程相匹配。

6.根据权利要求1所述的检测池，其特征在于：所述激发光纤（13）与透明光窗（8）的距离为20~100微米。

7.根据权利要求1所述的检测池，其特征在于：所述激发光纤（13）、毛细管（7）和收集光纤（9）的内外径及长短尺寸均可根据具体应用进行优化。