[发明专利]一种去除离子液体中痕量水的方法在审
| 申请号： | 201711259342.5 | 申请日： | 2017-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN109865313A | 公开（公告）日： | 2019-06-11 |
| 发明（设计）人： | 顾生刚;赵辰 | 申请（专利权）人： | 北京市合众创能光电技术有限公司 |
| 主分类号： | B01D15/08 | 分类号： | B01D15/08 |
| 代理公司： | 常州市夏成专利事务所(普通合伙) 32233 | 代理人： | 沈毅 |
| 地址： | 102200 北京市昌*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 离子液体 分子筛 痕量水 除水 去除 过滤 氮气氛围 高温加热 下清液 手套 制备 静止 送入 | ||
【权利要求书】：
1.一种去除离子液体中痕量水的方法，其特征是，该方法依次包括以下步骤：
（1）将分子筛在高温下干燥除水；
（2）将分子筛送入手套箱内制备好的离子液体里；
（3）将分子筛静置过滤后，下清液即为去除痕量水的离子液体。
2.根据权利要求1所述的去除离子液体中痕量水的方法，其特征是，所述分子筛为3A分子筛、4A分子筛、5A分子筛、13X分子筛其中的一种或几种。
3.根据权利要求1或2所述的去除离子液体中痕量水的方法，其特征是，所述分子筛干燥除水温度为400～600℃之间。
4.根据权利要求1或2所述的去除离子液体中痕量水的方法，其特征是，所述分子筛干燥除水时间为1～24小时。
5.根据权利要求1所述的去除离子液体中痕量水的方法，其特征是，所述分子筛静置过滤时间为1～48小时。
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