[发明专利]一种检测分压电路的电路参数的检测电路及电量计量芯片有效

专利信息
申请号: 201711244627.1 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN107861053A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 刘永锋;李律;张凡元;罗卓成;刘庆欣;许建超;赵琮;陈越 申请(专利权)人: 深圳市锐能微科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 压电 电路 参数 电量 计量 芯片
【说明书】:

技术领域

发明属于电压检测技术领域,尤其涉及一种检测分压电路的电路参数的检测电路及电量计量芯片。

背景技术

目前,传统的电量测量过程通常包括对电压、电流、功率等的测量,其中电压测量是电子系统中不可或缺的一项技术。在常规的电压测量中,一般都是通过电阻分压器或电压互感器来将待测量电压衰减到电压测量电路中的模数变换器(Analog to Digital Converter,ADC)的输入电压安全范围以内,再通过电压测量电路中的微控制单元(Micro controller Unit,MCU)对经过ADC转换后的数字信号进行电压幅度和相位的处理,进而实现对待测量电压的检测。

然而,电阻分压器的参数很容易受各种外力的影响,如静电、过电压、浪涌等,外力的影响通常会导致电阻分压器的分压比的改变,而现有的电压测量电路无法检测到电阻分压器的分压比的改变,从而会产生测量误差,导致电压测量的精度降低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测分压电路的电路参数的检测电路及电量计量芯片,旨在解决现有电压测量电路无法检测电阻分压器因外力影响而引起的分压比的改变导致测量误差和电压测量精度降低的问题。

本发明提供一种检测分压电路的电路参数的检测电路,与连接于第一信号源的分压电路相连,所述分压电路包括依次串联于所述第一信号源的输出端的第一分压器和第二分压器,所述检测电路包括:第三分压器、第四分压器、第一开关、第二开关及电压测量模块;所述第三分压器连接于所述第二分压器与地之间,所述第一开关与所述第三分压器并联,所述第四分压器和所述第二开关串联后并联于所述第一分压器和所述第二分压器的公共端与地之间,所述电压测量模块并联于所述第一分压器和所述第二分压器的公共端与地之间;所述电压测量模块用于检测所述第一开关和所述第二开关处于不同开关状态时所述分压电路所输出的不同的电压信号,并根据所述电压信号确定所述分压电路的电路参数是否异常。

进一步地,所述电压测量模块具体用于检测所述第一开关闭合且所述第二开关断开时所述分压电路输出的第一电压信号,以及检测所述第一开关和所述第二开关均闭合时所述分压电路输出的第二电压信号,以及检测所述第一开关和所述第二开关均断开时所述分压电路输出的第三电压信号,并根据所述第一电压信号、所述第二电压信号及所述第三电压信号确定所述分压电路的电路参数是否异常。

进一步地,所述电压测量模块具体用于对所述第一电压信号、所述第二电压信号及所述第三电压信号进行处理,分别得到第一电压信号值、第二电压信号值及第三电压信号值,并根据所述第二电压信号值与所述第一电压信号值的第一比值和所述第三电压信号值与所述第一电压信号值的第二比值确定所述分压电路的电路参数是否异常。

进一步地,所述电压测量模块具体用于根据所述第一比值确定第一比值变化率,根据所述第二比值确定第二比值变化率,根据所述第一比值变化率与所述第二比值变化率确定所述第一分压器的阻值变化率和所述第二分压器的阻值变化率,根据所述第一分压器的阻值变化率和所述第二分压器的阻值变化率确定所述分压电路的电路参数是否异常。

进一步地,所述电压测量模块具体用于若所述第一分压器的阻值变化率小于或等于第一预设阈值且所述第二分压器的阻值变化率小于或等于第二预设阈值,则确定所述分压电路的电路参数正常;若所述第一分压器的阻值变化率大于第一预设阈值和/或所述第二分压器的阻值变化率大于第二预设阈值,则确定所述分压电路的电路参数异常。

进一步地,所述第一分压器、所述第二分压器、所述第三分压器及所述第四分压器均为由电阻、电感、电容组成的电路。

进一步地,所述第一信号源为交流电源,所述第一分压器为第一电阻,所述第二分压器为第二电阻,所述第三分压器为第三电阻,所述第四分压器为第四电阻。

进一步地,所述第一开关和所述第二开关的开关状态通过开关信号发生器进行控制。

本发明的另一目的还在于提供一种电量计量芯片,所述电量计量芯片包括前述任一项所述的检测电路;所述分压电路设置于所述电量计量芯片外部。

本发明的再一目的还在于提供一种电量计量芯片,包括分压电路,其特征在于,所述电量计量芯片还包括前述任一项所述的检测电路。

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