[发明专利]玻璃光谱内透过率测量方法在审
| 申请号： | 201711238029.3 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108051409A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 吴志强;周佺佺;刘珍;张晓刚;吴德林 | 申请（专利权）人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 敬川 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 玻璃 光谱 透过 测量方法 | ||
1.玻璃光谱内透过率测量方法，包括取样步骤、分光步骤和测量步骤；其特征在于：
取样步骤：在同一块玻璃上切取薄样品(110)和厚样品(120)，并在同一状态下对薄样品(110)和厚样品(120)进行处理；其中，薄样品(110)的数量为两块或两块以上，且各块薄样品(110)的厚度相等；厚样品(120)至少为一块，且厚样品(120)的厚度大于薄样品(110)的厚度；
分光步骤：利用分光仪器将同一光源分光为测试光路(300)和参考光路(200)，并在测试光路(300)和参考光路(200)的末端设置探测器；
测量步骤：首先进行基线测量，利用样品架(400)在测试光路(300)和参考光路(200)中分别放置一块薄样品(110)后，对测试光路(300)和参考光路(200)进行零点和100％点校正；然后，通过厚样品(120)将处于测试光路(300)中的薄样品(110)替换掉，同时在测试光路(300)和参考光路(200)上进行光谱透过率测量；最后，消除玻璃表面反射并根据厚样品(120)与薄样品(110)的厚度差计算得到玻璃的光谱内透过率。
2.如权利要求1所述的玻璃光谱内透过率测量方法，其特征在于：薄样品(110)的厚度为5±0.05mm，厚样品(120)的厚度为15±0.05mm。
3.如权利要求1或2所述的玻璃光谱内透过率测量方法，其特征在于：取样步骤中，对各块薄样品(110)和厚样品(120)的通光面进行同盘研磨和抛光，对各块薄样品(110)和厚样品(120)除通光面外的其余各面进行细磨。
4.如权利要求3所述的玻璃光谱内透过率测量方法，其特征在于：各块薄样品(110)和厚样品(120)的通光面的表面粗糙度Ra＝0.012，平面度N＝3、ΔN＝0.5，平行度小于2′。
5.如权利要求1或2所述的玻璃光谱内透过率测量方法，其特征在于：分光步骤中，所采用的分光仪器为双光路分光光度计。
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