[发明专利]一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法；所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体；位于所述壳体底端的输出转接基座；位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上；将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试；进行老化性能测试；卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。

技术领域

本发明涉及元器件测试技术领域。更具体地，涉及一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法。

背景技术

石英晶体谐振器是利用具有压电效应的石英晶片而制成的谐振元件，也是构成晶体振荡器的关键组件。由于石英晶体谐振器具有体积小、重量轻、可靠性高、频率稳定度优良等一系列优异特点，被广泛应用于通信、医疗、航空航天、武器装备等行业及领域中。

晶体谐振器、晶体振荡器等石英晶体元器件的频率随着时间的变化而变化，称为老化。老化性能是评估石英晶体元器件频率稳定度优良性的一个重要指标。并且当晶体谐振器作为晶体振荡器的关键组件使用时，晶体谐振器自身的老化性能对其构成的晶体振荡器老化性能具有决定性影响。因此，对于晶体谐振器自身的老化性能进行独立的、预先的测试及评估十分必要。

晶体谐振器本身是无源元件，对晶体谐振器进行老化测试时，必须将其接入到振荡网络中产生谐振后方能进行输出频率的变化量测试，得出老化性能评估结果。现有的测试方法通常是将晶体谐振器以焊接、甚至改变其引线形状等的方式安装在传统设计的振荡装置后，放入恒温箱中在同一温度条件下进行老化测试。其中对引线焊接、改变引线形状等操作均对晶体谐振器的形貌完好性造成破坏，甚至显著影响晶体谐振器的后续交付、使用及安装。因此对于以晶体谐振器作为产品最终交付物的研制生产场合，只能对产品老化性能采取破坏性抽样检测；而对于将晶体谐振器作为组件使用并以晶体振荡器等配套产品作为最终产品交付物的研制生产场合，由于现有测试方法及装置不能实现无损测试，也就无法实现对配套产品使用的石英谐振器在组装前进行预先的老化性能评估筛选及剔除，只能直接对最终的晶体振荡器等配套产品的老化性能进行测试，淘汰不符合要求的最终产品或者拆除更换晶体谐振器进行返工、导致配套产品的生产成本及返工率较高，合格率较低。

另外现有方法采用的传统测试振荡装置与振荡器设计类似，不仅谐振器需要焊接安装及拆卸，操作繁杂，而且其电路及结构设计也完全参照振荡器产品，采用所有功能电路均集中排布在一起的方式，电路板体积较大，老化测试系统单板可安装装置数量少，测试效率较低；同时由于振荡网络中振荡与加热控温电路功能部分对所接入晶体谐振器的选择性较强，晶体谐振器的切型、频率范围、外形结构等不同，振荡控温电路的电气设计及加热结构也有所区别。因此，当测试更换不同参数产品时，就必须更换整套测试装置。这样一来，测试工装投入成本较高而影响了装置形成系列化以适配不同参数的产品，从而导致现有测试方法及装置受到明显限制。

因此，本发明提供了一种产品适用范围广的、可以对石英晶体谐振器进行独立的、无损伤的、精确的老化性能测试装置及方法。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置。该装置可以对石英晶体谐振器进行独立的、无损伤的、精确的老化性能测试，解决了现有测试方法对产品外部形貌具有破坏性、产品适配性较差等问题。

本发明的另一个目的在于提供一种将上述装置用于石英晶体谐振器的老化性能测试方法。

为达到上述第一个目的，本发明采用下述技术方案：

一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置，包括：

底端开口的壳体；

位于所述壳体底端的输出转接基座；