[发明专利]相位偏差的补偿方法和装置

权利要求书

1.一种相位偏差的补偿方法，其特征在于，包括：

获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；

将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；

根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；

根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；

基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：

检测所述第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；

若检测到所述第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一余弦模拟信号进行采样，得到所述第一余弦采样信号；

检测所述第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；

若检测到所述第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一正弦模拟信号进行采样，得到所述第一正弦采样信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：

确定所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值；

基于所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值，确定所述相位偏差。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，所述第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，

确定相位偏差包括：

分别确定所述第一正弦采样信号对应的幅值、所述第二正弦采样信号对应的幅值、所述第一余弦采样信号对应的幅值、所述第二余弦采样信号对应的幅值；

分别基于所述第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于所述第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于所述第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于所述第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；

计算所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值；

将所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值作为所述相位偏差。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿包括：

根据所述相位偏差通过第一预设算法对所述第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；

根据所述相位偏差通过第二预设算法对所述第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。

6.一种相位偏差的补偿装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；

第二获取单元，用于将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；

第三获取单元，用于根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；

确定单元，用于根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；

补偿单元，用于基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。