[发明专利]X荧光系统中电压及电流的监测装置在审

专利信息
申请号: 201711210239.1 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN109839533A 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 翟路海 申请(专利权)人: 西安玖诚玖谊实业有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710000 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 处理器 监测装置 管流 实时时钟模块 信号调理电路 调理电路 管压信号 模块连接 数据处理结果 分析数据 时钟信息 工作管 核仪器 光管 研发 监测
【说明书】:

发明公开了一种X荧光系统中电压及电流的监测装置,包括管压信号调理电路、管流信号调理电路、ADC模块、Cortex‑M3处理器、实时时钟模块、SD卡存储模块以及LCD模块;所述管压信号调理电路与ADC1模块连接;所述管流信号调理电路与ADC2模块连接;所述Cortex‑M3处理器与实时时钟模块、SD卡存储模块和LCD模块连接;所述LCD模块用于显示Cortex‑M3处理器的数据处理结果和时钟信息;所述Cortex‑M3处理器通过USB接口与PC机系统连接;该X荧光系统中电压及电流的监测装置非常适用于核仪器研发领域内的X射线光管工作管压、管流监测,具有结构简单、价格低廉、效率高、保障分析数据可靠等优点。

技术领域

本发明涉及一种X荧光分析系统中多通道电压监测装置,非常适用于利用X荧光仪器过程中,对仪器工作状态下X射线光管的管压、管流进行监测。

背景技术

核技术是现代科学技术的重要组成部分,是当代最主要的尖端技术之一,也是社会现代化的标志之一。自1948年出现了第一台商品性的波长色散X射线荧光分析仪以来,X射线荧光分析技术发展迅速。20世纪90年代以来,随着电子技术和计算机的飞速发展,X射线荧光分析仪现已由单一的波长色散X射线荧光分析仪发展成拥有波长色散、能量色散、同步辐射和质子X射线分析仪等一大家族。我国学者为满足生产和科研工作的需要,引进了众多的一流X射线荧光光谱仪,有利地推动了我国X荧光光谱分析的发展。X射线荧光分析技术的使用已经渗透到了科学研究、医学、农业、工业等各个领域。目前,世界上有近100个国家在进行X射线荧光分析技术的开发和利用。经过60多年的发展,X射线荧光分析产业取得了日益明显的经济效益。2014年统计数据显示,全球X射线荧光分析产业的年产值已经超过1000亿美元。

随着X射线荧光分析技术的发展,X射线荧光分析仪器的研制也一直受到人们广泛的关注。在X射线荧光分析仪器的使用过程中,测试人员希望获取最可靠的样品分析结果。考虑到X射线荧光分析仪器工作过程中需要X射线光管工作于稳定状态,包括X射线管高压电压和高压电流参数都应该在规定的正常范围内。任何一个部位出现故障,都可能直接影响分析结果,甚至导致严重的生产事故。另外,X射线荧光分析仪进行样品分析需要的时间较短,短时间内即可完成大量样品的分析,但是分析结果没有包含X射线荧光分析仪各重要部分的工作状态数据,不能判断仪器的工作状态指标是否处于正常范围,难以保证分析结果的可靠性。鉴于国内X射线荧光分析仪器产业巨大的市场潜力和良好的应用前景,研制一种安全可靠、精确度高、价格便宜的X荧光系统中电压及电流的监测装置显得非常迫切。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术的不足,提供一种X荧光系统中电压及电流的监测装置,该装置针对目前X射线荧光分析仪对仪器内X射线光管需要进行工作状态指标监测的应用要求,将信号调理电路、ADC模块、Cortex-M3处理器、实时时钟模块、SD卡存储模块以及LCD模块采用系统化设计,构成一个可完成监测仪器内X射线光管工作状态指标的综合系统,具有结构简单、价格低廉、精确度高、保障仪器工作于正常状态等优点。

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