[发明专利]高精度温度传感器及精度调节方法有效
申请号: | 201711202272.X | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN107990992B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 陈卢;张驰 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;重庆纳尔利科技有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01 |
代理公司: | 重庆上义众和专利代理事务所(普通合伙) 50225 | 代理人: | 孙人鹏 |
地址: | 610054 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高精度 温度传感器 精度 调节 方法 | ||
1.一种高精度温度传感器,其特征在于:包括第一MOS管(201)、MOS管组(202)、第二MOS管(203)、第三MOS管(204)、第一双极晶体管(205)和第二双极晶体管(206)、运算放大器(208)、补偿电路(207)和ADC(109),所述MOS管组(202)包括至少一个串联的MOS管组成,所述MOS管组(202)内的MOS管参数与第一MOS管(201)的参数相同;
所述第一MOS管(201)的漏级与所述第三MOS管(204)的源级相连,所述第三MOS管(204)的漏级与所述第一双极晶体管(205)的发射极相连,所述第一双极晶体管(205)集电极接地,所述第一双极晶体管(205)的基极与集电极相连;
所述MOS管组(202)的漏级与所述第二MOS管(203)的源级相连,所述第二MOS管(203)的漏级与所述第二双极晶体管(206)的发射极相连,所述第二双极晶体管(206)集电极接地,所述第二双极晶体管(206)的基极与集电极相连;
所述运算放大器(208)同向端与所述第一双极晶体管(205)发射极相连,所述运算放大器(206)反向端与所述第二双极晶体管(206)发射极相连,所述第一MOS管(201)的源级与所述MOS管组(202)的源级相连;
所述运算放大器(208)的输出端与所述ADC的输入端相连,所述补偿电路(207)第一输出端与所述运算放大器(208)电源端相连,所述补偿电路(207)第二输出端与所述ADC控制端相连;
所述补偿电路(207)第一输出端电压为Voffset,第二输出端电压为Vref*,基准电压为Vref;
Voffset,Vref和Vref*的关系式为:
其中K是玻尔兹曼常数,q是电子电荷量,T是开尔文绝对温度,n是流过第一双极晶体管(205)和第二双极晶体管(206)的电流密度比值,m为ADC的有效位数,A为运算放大器(208)的放大倍数。
2.根据权利要求1所述一种高精度温度传感器精度调整方法,其特征在于:
步骤1:确定运算放大器(208)的输入电压K是玻尔兹曼常数,q是电子电荷量,T是开尔文绝对温度,n是流过第一双极晶体管(205)和第二双极晶体管(206)的电流密度比值;
步骤2:得到基准电压Vref的关系式为其中n0为流过流过第一双极晶体管(205)和第二双极晶体管(206)的电流密度比值,k1为比例系数,用于调整Vref;
步骤3:确定ADC的输出电压为:其中m为ADC的有效位数,A为运算放大器(208)的放大倍数,VO为失调电压,用于控制运算放大器(208)输出电压摆幅在ADC量化范围内;
步骤4:确定补偿电路(207)第一输出端电压Voffset和第二输出端电压Vref*,Voffset=b1Vref,Vref*=b2Vref,
步骤5:设基准电压线性部分为y1=K2x+B2,随温度变化的ΔVBE为y2=K1x+B1,参数B1,B2为调整最终开尔文温度转化为摄氏温度以后的直流漂移参数; 确定ADC输出电压为:
步骤6:对Vout在x=0进行泰勒展开:
为温度检测的变化斜率,第三项调整的值抵消Vref中非线性分量带来的二阶误差。
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