[发明专利]基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法有效
申请号: | 201711201411.7 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN108226746B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 潘潇雨;许伟达;刘伟 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 micro flex 跨导运放 max436 测试 方法 | ||
本发明提供了一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法,本发明解决了传统测试方法数度慢,精度低,无法进行自动化测试的缺点。使用电阻跨导网络,免去了运放反馈电路,优化了测试线路,通过测试程序控制输入、输出信号,实现了不同参数连续自动测试,提高了测试速度,使用阻抗匹配,保证了测试的精度,从而达到快速,准确,稳定测试的目的。
技术领域
本发明涉及一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法。
背景技术
MAX436是具有差分、高阻抗输入的高速、宽禁带跨导运算放大器。该器件为电流输出型运算放大器,可以在不需要负反馈电路的情况下得到精确的信号增益,在航天型号中有广泛的运用。大规模集成电路测试系统Micro FLEX是由Teradyne公司生产的高精度集成电路测试系统,它在PC机上用VBT语言编写测试程序,向被测器件提供电信号、数字测试向量和模拟测试波形,自动测量相应输出管脚上的响应,判断器件是否达到规范的功能和性能要求。Micro FLEX测试系统具有高速高精度的优点,基于该平台开发的MAX436测试程序并设计相关的测试线路,可较好地满足器件测试的要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法,能够解决传统测试方法数度慢,精度低,无法进行自动化测试的问题。
为解决上述问题,本发明提供一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法,包括:
使器件上电,V+=5V,V-=-5V,使继电器K1,K4,K7,K8,K9闭合,将MAX436的正负输入端IN+、IN-分别连接到Micro FLEX模拟信号源BBAC Source+、BBAC Source-上,输出端连接到信号捕获端口BBAC capture上,跨导端Z+,Z-通过400Ω电阻Rz连接构成跨导网络,输出端加50Ω负载电阻RL;
当信号源输入正弦波差分信号时,输出端得到正弦波输出信号,由BBAC capture捕获输出信号后,经过系统计算处理,得到输出电压有效值Vout,由计算增益系数K= Vout/Vin/(RL/Rz)。
进一步的,在上述方法中,还包括:
使器件上电,V+=5V,V-=-5V,使继电器保持默认状态,器件输入、输出端与MicroFLEX运放测试环PLOAL相连,输出端加0V电压,测试两个输入端偏置电流值,输入失调电流为两个输入端偏置电流之差。
进一步的,在上述方法中,还包括:
使器件上电,V+=5V,V-=-5V,使继电器K1,K3闭合,加50Ω负载,器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连,输出端加0V电压,测试两个输入端的差分电压,即为输入失调电压Vos。
进一步的,在上述方法中,还包括:
使器件上电,V+=5V,V-=-5V,使继电器K1,K3闭合,加50Ω负载,器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连,输入端分别加2.5V、-2.5V的共模电压,测试两次得到的失调电压Vos1、Vos2,计算共模抑制比CMRR=20Log((Vos1-Vos2)/5)。
进一步的,在上述方法中,还包括:
使器件上电,V+=5.25V,V-=-5.25V,使继电器K1,K3闭合,加50Ω负载,器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连,输入端加0V共模电压,测试Vos1,改变器件电源电压为V+=2.4V, V-=-2.4V,用同样的方法测试Vos2,计算电源电压抑制比PSRR=20Log((Vos1-Vos2)/7.65)。
进一步的,在上述方法中,还包括:
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