[发明专利]一种显示面板

说明书

本发明提出了一种显示面板，所述显示面板包括显示区域和非显示区域；其中，在所述非显示区域中设置了第一开关单元、第二开关单元以及至少两个输入端，通过所述输入端对所述第一开关单元和所述第二开关单元的进行控制，以使所述显示面板能同时满足阵列制程测试区域的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入。有益效果：有效保证了所述显示面板在生产过程中对问题面板检测的准确性，提高了所述显示面板的良品率，降低了生产成本。

技术领域

本发明涉及显示领域，特别涉及一种显示面板。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)是目前市场上应用最为广泛的显示产品，其生产工艺技术十分成熟，产品良率高，生产成本相对较低，市场接受度高。而TFT-LCD(Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)面板制造行业已经发展多年，对于产品的生产流程已经十分精炼与成熟。

在一块显示面板的生产过程中，为了保证利润最大化，在前期的阵列工艺与中期的成盒工艺都会设置检测措施，以筛选出问题产品，及时修补或是废弃，防止后段制程出现不必要的产能浪费；而对于采用PSVA(polymer stabilized vertical alignment，聚合物稳定垂直配向)模式的TFT-LCD，在中期的成盒工艺完成后，会进行HVA(High VerticalAlignment，高垂直排列)光配向制程使液晶分子发生偏转，光配向的过程可以总结为：面板成盒后，通过预留的配向信号输入端子对面板显示单元施加电压信号，再通过紫外光照射，让液晶分子保持一定的转向。

图1所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图A，阵列制程测试端子102(103)，配向信号输入端子104(105)等等以及相应走线如图1中所示，对于前段阵列工艺制程的检测方法是在预留的阵列制程测试端子102(103)上施加检测信号，并在阵列基板上方放置液晶盒，模拟正常显示时液晶面板的状态，若发现液晶盒显示异常便可推测出阵列基板出现问题。

下面以55寸大型的液晶显示器为例，其他尺寸产品在空间允许时几乎都采用与之相似的设计。配向信号输入端子104(105)位于面板短边侧，每侧各有一组，相同信号间通过配向信号输入端走线连接；阵列制程测试端子102(103)位于面板长边侧的单侧，左右各有一组，分别与配向信号输入端走线上的相同信号线连接，并连接至阵列制程测试端子106(107)上，经过阵列制程测试端子106(107)连入面内；

在这种设计中，左右两侧的阵列制程测试端子102(103)都与配向信号输入端走线相连接，在配向制程时，配向信号输入端子104(105)上的信号可以传输至左右两侧的阵列制程测试端子106(107)，并同时传导至面内，信号较均匀，配向效果较好。但这种信号由于阵列制程测试端子102(103)无法独立施加信号，左右两侧的阵列制程测试端子102(103)都与配向信号输入端走线连接，对左面施加信号右边也会有，反之亦然)，因此无法进行阵列制程测试端单驱检测，对于面内的走线漏检的发生率较高，造成产品良率较低。

图2所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图B，这种走线设计可以实现阵列制程测试端子202(203)单驱检测。如图2所示，只有单侧的阵列制程测试端子202(203)与配向信号输入端走线相连，另一侧的阵列制程测试端子202(203)跳过配向信号输入端走线，直接与阵列制程测试端子206(207)相连；

这种设计左右两侧的阵列制程测试端子202(203)互不连通，可实现阵列制程测试端子的单驱检测。但这种设计由于右侧的阵列制程测试端子206(207)并未与配向信号输入端走线相连，所以在光配向时，在配向信号输入端上施加的电压信号只通过左侧的阵列制程测试端子206(207)传输至面内，面内信号不均极容易出现配向不良的现象，造成产品批次性的显示问题。

发明内容

本发明提供了一种显示面板，可以同时满足阵列制程测试端子的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入。